投稿論文†

  1. Stress reduction and structural quality improvement due to In doping in "GaAs"/Si
    S. Saravanan, M. Adachi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno : Mat. Sci. Eng. B Vol.68 (2000) 166-170

  2. Impurity reduction and crystalline quality improvement due to isovalent doping(In) in GaAs epilayers on Si substrate by Chemical Beam Epitaxy
    S. Saravanan, M. Adachi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno : J. Crys. Growth Vol.209 (2000) 621-624

  3. Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: Investigations of local optical and electrical properties
    N. Satoh, K. Kobayashi, H. Yamada, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, K. Matsushige : Appl. Surf. Sci. Vol.188 (2002) 425-429.

  4. Investigations of local surface properties by SNOM combined with KFM using a PZT cantilever
    N. Satoh, Watanabe, T. Fujii, K. Kobayashi, H. Yamada, K. Matsushige : Inst. Elec., Inf. Comm. Eng. Vol.E85-C (2002) 2071-2076.

  5. Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties by Dynamicmode AFM Using a Piezoelectric cantilever
    N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, H. Yamada, K. Matsushige : Jpn. J. Appl. Phys. Vol.42 (2003) 4878-4881

  6. Investigations of Nanoparticles by Scanning Near-Field Optical Microscopy Combined with Kelvin Probe Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever
    N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige : Jpn. J. Appl. Phys. Vol.43 (2004) 4651-4654

  7. Distribution of Silicon of Bamboo Charcoal by SEM/EDS
    S. Mochimaru, K. Ohtani, K. Tomita, T. Minamide, N. Satoh, K. Kobayashi : Bamboo J. Vol.22 (2005) 71-80 [in Japanese]

  8. Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers
    N. Satoh, E. Tsunemi, Y. Miyato, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys. Vol.46 (2007) 5543-5547

  9. Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method
    E. Tsunemi, N. Satoh, Y. Miyato, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 46 (2007) 5636-5638

  10. Near-field light detection by conservative and dissipative force modulation methods using a piezoelectric cantilever
    N. Satoh, T. Fukuma, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, and H. Yamada : Appl. Phys. Lett. Vol.96 (2010) 233104-233107.

  11. Nanoscale inkjet printing of liquid droplets out of the ultrasmall aperture on an AFM tip
    K. Kaisei, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, and H. Yamada : Nanotechnology Vol. 22 (2011) 175301 -175305

  12. Surface Potential Measurement of Tris(8-hydroxyquinolinato)aluminum and Bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl]benzidine Thin Films Fabricated on Indium–Tin Oxide by Kelvin Probe Force Microscopy
    S. Katori, N. Satoh, M. Yahiro, K. Kobayashi, H. Yamada, K. Matsushige, and S. Fujita : Jpn. J. Appl. Phys. Vol.50 (2011) 071601 [DOI]

  13. Surface Potential Measurement of Organic Thin Film on Metal Electrodes by Dynamic Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever
    N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada : J. Appl. Phys. Vol. 109 (2011) 114306-114310 [DOI]

  14. Energy Band Diagram near the Interface of Aluminum Oxide on p-Si Fabricated by Atomic Layer Deposition without/with Rapid Thermal Cycle Annealing Determined by Capacitance―Voltage Measurements
    N. Satoh, I. Cesar, M. Lamers, I. Romijn, K. Bakker, C. Olson, D. Oosterling-Saynova, Y. Komatsu, F. Verbakel, M. Wiggers and A. Weeber : e-J. Surf. Sci. Nanotech. Vol. 10 (2012) 22-28 [DOI 10.1380/ejssnt.2012.22]

  15. Atomic force microscopy and scanning near-field optical microscopy with frequency detection method using a piezoelectric cantilever
    N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada : Meas. Sci. Technol. (2011) to be submitted

  16. Multi-Probe Atomic Force Microscopy Using Piezo-resistive Cantilevers and Interaction Between Probes
    N. Satoh, E. Tsunemi, K. Kobayashi, K. Matsushige, and H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys., (2011) to be Submitted

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本†

  1. 「有機基板上の電子デバイス」シーエムシー出版 坂本正則 監修 執筆分第５章「デバイス・応用」の第６節「無機・有機積層型フレキシブル太陽電池」(pp189～195)（執筆者数50名）ISBN 4-88231-556-4　（2006年05月）

  2. 「続・洛中洛外ナノテクばなし」 第２章「明日のものづくりとナノテク―機器の高性能化に生かす」の第一九話 “ナノスケールでお箸が使えたら”(pp. 69-70) ISBN 978-4-526-05972-8（2007年11月）

  3. 「有機デバイスのための界面評価と制御技術 」シーエムシー出版 岩本光正 監修 執筆分第I編【界面現象の観察と界面構造】［電子デバイス界面］の第５章「原子間力顕微鏡とケルビンプローブ表面力顕微鏡（KPFM）による発光素子の解析」(pp53～73)（執筆者数31名）ISBN 978-4-7813-0159-4　（2009年08月）

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特許†

  1. 特願2004-253156
    「積層型有機・無機複合高効率太陽電池」
    　佐藤宣夫, 香取重尊, 藤田静雄, 松重和美

  2. 特願2004-331103
    「表面状態計測方法、表面状態計測装置、顕微鏡、情報処理装置」
    　佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 松重和美

  3. 特願2006-141840
    「顎関節振動による全く新しいバイオメトリックス認証」
    　佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 松重和美

  4. 特願2007-91856
    「３次元場取得装置、方法およびプログラム、磁気力顕微鏡、情報読み取り装置、電流分布測定装置、生体磁場測定装置、非破壊検査装置」
    木村建次郎, 小林圭, 山田啓文, 堀内喬, 佐藤宣夫, 松重和美

  5. 特願2008－314113
    「走査型プローブ顕微鏡の出力処理方法および走査型プローブ顕微鏡」
    　常見英加、佐藤宣夫、小林圭、山田啓文、松重和美

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国際学会発表†

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(本人登壇分)†

  1. Growth of GaInP with an intermediate GaP layer on Si Substrate by Chemical Beam Epitaxy, N .Satoh, M. Adachi, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno, 11th International Photovoltaic Science and Engineering Conference(1999年9月)

  2. Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: Investigation of local optical and electrical properties, N. Satoh, K. Kobayashi, H. Yamada, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, K. Matsushige, 4th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (2001年9月)

  3. Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties by Dynamic-mode AFM Using a Conductive PZT Cantilever, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, H. Yamada, K. Matsushige, The 10th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2002年10月)

  4. Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties of Organic Ultrathin Films by Dynamic-Mode AFM Using a Piezoelectric Cantilever, N. Satoh, M. Nakahara, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, S. Hotta, H. Yamada and K. Matsushige, 2nd International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (2003年3月)

  5. Investigation of nanoparticles by dynamic-mode AFM using a PZT cantilever, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada and K. Matsushige, 7th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, and Nanostructures (2003年11月)

  6. Investigations of Nanoparticles by SNOM Combined with KFM Using a PZT Microfabricated Cantilever, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige, The 11th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2003年12月)

  7. Near-Field Light Detection by Dissipative Force Modulation Using a PZT Cantilever DFM/SNOM, N. Satoh, T. Fukuma , K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige, The 12th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2004年12月)

  8. Surface Potential Measurement of Organic thin Films by Kelvin Probe Force Microscopy using a PZT Cantilever, N. Satoh, S. Katori , M. Yahiro, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige, Third International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (2005年3月)

  9. Dynamic Force Microscopy by Dissipative Force Modulation using a Piezoelectric Cantilever for Near-field Light Detection, N. Satoh, T. Fukuma, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada, 13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques (2005年7月)

  10. Surface Potential Measurement of Organic thin Film by Kelvin Probe Force Microscopy Using a PZT Cantilever, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, The 4th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (2005年11月)

  11. Near-field Light Detection by Dissipative Force Modulation Method in FM-DFM using a PZT Cantilever, N. Satoh, T. Fukuma, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, Materials Research Society Fall Meeting (2005年12月)

  12. Dynamic Force Microscopy using Dissipative Force Modulation for Near-field Light Detection, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, 9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (2006年7月)

  13. Surface potential measurement of a-sexithiophene by Kelvin probe force microscopy utilizing frequency modulation detection method, N. Satoh, K. Kaisei, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)

  14. Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers, N. Satoh, E. Tsunemi, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)

  15. Local surface potential measurements of oligothiophene molecular films connected to nano-gap metallic electrodes by Kelvin probe force microscopy, N. Satoh, Y. Onoyama, K. Kaisei, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, CREST Workshop on Molecular Nano-Electronic Devices (2007年11月)

  16. Detection of Photo-induced Force by Frequency Modulation Detection-based Dynamic Force Microscopy, Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada, The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (2008年11月)

  17. Investigation of local surface properties by dynamic force microscopy using a piezo-electric cantilever, Nobuo Satoh, 2009 MicRO Alliance in IMTEK, Freiburg University (2009/07/27)

  18. Surface potential measurement of multilayer organic thin films by Kelvin probe method, Nobuo Satoh, The Dutch Solar R&D Seminar 2010, Jaarbeurs Utrecht (2010/09/29)

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(共同研究者)†

  1. Growth of GaInP on Si Substrate by Chemical Beam Epitaxy, M. Adachi, N. Kishi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno, 7th International Conference on Chemical Beam Epitaxy and Rerated Growth Techniques (1999年7月)

  2. Observation of surface potential by Kelvin probe force microscopy for fabrication of electrode / organic thin film, S. Katori, N. Satoh, M. Yahiro, S. Fujita and K. Matsushige, Korea Japan Joint Forum 2004 "Organic Materials for Electronics and Photonics (2004年11月)

  3. Study of Organic and Inorganic Accumulating Type of Flexible Solar Cell S. Katori, N. Satoh, S. Fujita, K. Matsushige International Conference on Organic Materials Technology (2005年7月)

  4. Development of a multi-probe AFM system with self-sensing cantilevers, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, 9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (2006年7月)

  5. Development of Multi-probe Atomic Force Microscope System with Self-sensing Cantilevers, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, The 16th International Microscopy Congress (2006年9月)

  6. Local polarized domains of ferroelectric materials investigated by Kelvin probe force microscopy, A. Nakai, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)

  7. Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)

  8. Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada, 10th International NC-AFM Conference (2007年9月)

  9. Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, CREST Workshop on Molecular Nano-Electronic Devices (2007年11月)

  10. Development of Multi-Probe AFM with Optical Beam Deflection Method, E.Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada, Materials Research Society Fall Meeting (2007年11月)

  11. Local Surface Potential Measurements on Oligothiophene Molecular Films between Metallic Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy, Y. Onoyama, K. Kobayashi, N. Satoh, K. Matsushige and H. Yamada, 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2007年12月)

  12. Surface potentials of PCBM molecular films under light irradiation investigated by FM-DFM/KFM, M. Yamaki, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2007年12月)

  13. Development of Two-probe AFM with Optical Beam Deflection Method, Eika Tsunemi, Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada, International Conference on Nanoscience + Technology (2008年7月)

  14. Local Potential Imaging of a Multilayer Ceramic Capacitor Using Kelvin Probe Force Microscopy, T Komatsubara, S Higuchi, K Nishikata, N Satoh, K Kobayashi, H Yamada, Microscopy & Microanalysis 2008 Meeting (2008年8月)

  15. Development of Two-probe Frequency Modulation AFM/KFM for Nanometer-scale Electrical Measurement, Eika Tsunemi, Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada, 11th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (2008年9月)

  16. Local Electrical Measurement of Organic Thin Films with Two-probe AFM/KFM, Eika Tsunemi, Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada, The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (2008年11月)

  17. A Study On Detection Of Modulated Laser With MEMS Cantilever Resonator, Jimin Oh, Nobuo Satoh, and Takashi Hikihara, 2009 MicRO Alliance in IMTEK, Freiburg University (2009/07/27)

  18. Surface Potential Measurement of CuPc/C60 Thin Film Fabricated on ITO Electrode by using FM-KFM Technique, S. Katori, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Fujita, K. Matsushige, H. Yamada, Materials Research Society Fall Meeting 2010 [E8.39] (2010/12/01)

  19. Evaluation of surface potential of CuPc/C60 thin film fabricated on ITO electrode by using FM-KFM technique, S. Katori, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada, and S. Fujita, International Conference on Materials and Advanced Technologies, Singapore [#R8-5] (2011/06/30)

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国内会議†

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（本人登壇分）†

  1. CBE法により成長したInGaP/GaAsの断面EBIC観察, 佐藤宣夫, 島崎晃治, 安達充浩, 江川孝志, 神保孝志, 梅野正義, 第45回応用物理学関係連合講演会 (1998年3月)

  2. 圧電薄膜カンチレバーを用いた強誘電体薄膜の微小分極領域の評価, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 堀内俊寿, 渡辺俊二, 松重和美, 第61回応用物理学学術講演会 (2000年9月)

  3. 圧電性薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的特性及び電気的特性評価への応用, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 渡辺俊二, 堀内俊寿, 松重和美, 第48回応用物理学関係連合講演会 (2001年3月)

  4. 導電性PZT カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的及び電気的特性評価への応用, 佐藤宣夫, 小林圭, 青木裕之, 山田啓文, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 松重和美, 第62回応用物理学学術講演会 (2001年9月)

  5. 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的及び電気的特性評価への応用, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第49回応用物理学関係連合講演会 (2002年3月)

  6. 導電性PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOM, 佐藤宣夫, 渡辺俊二, 藤井透, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, 近接場光学研究グループ第11回研究討論会 (2002年6月)

  7. 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM －ナノスケール光学・電気物性評価－, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第63回応用物理学会学術講演会 (2002年9月)

  8. PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードAFM: 光学的および電気特性評価への応用, 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 大阪大学VBL 若手研究発表会 (2002年12月)

  9. PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードAFM －ナノスケール光学・電気物性評価－, 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 堀田収, 山田啓文, 松重和美, 第50回応用物理学関係連合講演会 (2003年3月)

  10. PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOM －ナノスケール光学・電気物性評価－, 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第50回応用物理学関係連合講演会 (2003年3月)

  11. PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOMによるナノ粒子識別, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 近接場光学研究グループ第12回研究討論会 (2003年6月)

  12. 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFMによるナノ粒子識別, 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第64回応用物理学会学術講演会 (2003年8月)

  13. ＰＺＴ薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードＡＦＭによるナノ粒子の観察, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 第51回応用物理学関係連合学術講演会 (2004年3月)

  14. ＰＺＴ薄膜カンチレバーを用いたＦＭ検出方式ダイナミックモードＳＮＯＭ－散逸力変調による光検出の試み－, 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 第65回応用物理学会学術講演会 (2004年9月)

  15. PZT薄膜カンチレバーを用いたFM検出方式ダイナミックモードSNOM(2)－散逸力変調による光検出－, 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 第52回応用物理学関係連合講演会 (2005年3月)

  16. 圧電薄膜カンチレバーを用いた多機能走査プローブ顕微鏡の開発, 佐藤宣夫, 日本真空協会関西支部平成17年度第2回講演会 (2005年5月)

  17. PZTカンチレバーを用いたFM-DFMの散逸力変調法による近接場光検出, 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透 , 松重和美, 山田啓文, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  18. マスク蒸着法により作製した積層有機薄膜の暗室下でのKFM表面電位マッピング, 佐藤宣夫, 香取重尊, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 藤田静雄, 松重和美, 山田啓文, 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)

  19. 圧電薄膜カンチレバーを用いたマルチプローブSPMの開発, 佐藤宣夫, 常見英加, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, ナノ学会第4回大会 (2006年5月)

  20. 周波数変調方式のKFMによる有機分子薄膜材料の表面電位計測, 佐藤宣夫, 香取重尊, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 藤田静雄, 山田啓文, 松重和美, 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)

  21. FM検出方式ダイナミックモードAFMによる光誘起力検出, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)

  22. FM検出方式ダイナミックモードAFMによる光誘起力検出, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文, 第44回茅コンファレンス (2006年9月)

  23. 光照射下におけるオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位計測, 佐藤宣夫，石塚 彰，小野山有亮，改正清広，小林圭，松重和美，山田啓文, 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)

  24. マルチプローブ原子間力顕微鏡の探針間距離制御, 佐藤宣夫，常見英加，小林圭，渡辺俊二，藤井透，松重和美，山田啓文, 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)

  25. 可視光入射によるFM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の表面電位計測, 佐藤宣夫，山木理生，香取重尊，小林圭，藤田静雄，松重和美，山田啓文, 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)

  26. ツインプローブ原子間力顕微鏡の開発とその基本性能, 佐藤宣夫，常見英加，小林圭，小松原隆司，樋口誠司，山田啓文，松重和美, 平成20年電気関係学会関西支部連合大会 (2008年11月)

  27. 有機/無機複合型太陽電池のための表面電位観察, 佐藤宣夫, 山木理生, 香取尊重, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, 平成21年電気学会全国大会 (2009年3月)

  28. ツインプローブ原子間力顕微鏡の開発とプローブ間距離制御, 佐藤宣夫，常見英加，小林圭，小松原隆司，樋口誠司，山田啓文，松重和美, 平成21年電気関係学会関西支部連合大会 (2008年11月)

  29. 多直多並列接続された リチウムイオン二次電池の評価, 佐藤宣夫, 美馬圭介, 引原隆士 平成22年電気学会全国大会 (2010年3月)

  30. FM-DFM/KFMを用いた有機分子積層膜の表面電位計測, 佐藤宣夫，香取重尊，小林 圭，山田啓文，松重和美, 第57回応用物理学関係連合講演会 (2010年3月)

  31. SiパワーMOSFETを用いた1MHzスイッチング動作時におけるフライバックコンバータの挙動解析, 佐藤宣夫，文野貴司，宅野嗣大，大嶽浩隆，中村孝，引原隆士， 平成23年電気関係学会関西支部連合大会 (2011年10月) 29A2-16

  32. 絶縁型フライバックコンバータの1MHzスイッチングにおける挙動解析, 佐藤宣夫，文野貴司，宅野嗣大，大嶽浩隆，中村孝，引原隆士， 平成24年電気学会 半導体電力変換研究会 (2012年1月) SPC-12-018

  33. SiC製DMOSFETを用いた絶縁型フライバックコンバータの1MHzスイッチング動作, 佐藤宣夫，文野貴司，大嶽浩隆，中村孝，引原隆士， 平成24年電気学会全国大会 (2012年03月) 4-158 (発表予定)

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（共同研究者分）†

  1. CBE成長GaAs/SiにおけるInの添加効果, S. Saravanan, 安達充浩, 佐藤宣夫, 曽我哲夫, 神保孝志, 梅野正義, 第47回応用物理学関係連合講演会 (2000年3月)

  2. 真空蒸着法により作製された金属/有機薄膜のKFMを用いた表面電位観察, 香取重尊, 佐藤宣夫, 藤田静雄, 松重和美, 第65回応用物理学会学術講演会 (2004年9月)

  3. 有機積層薄膜のKFMを用いた表面電位観察, 香取重尊, 佐藤宣夫, 八尋正幸, 小林圭, 藤田静雄, 松重和美, 第52回応用物理学関係連合講演会 (2005年3月)

  4. ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による有機半導体分子薄膜／金属界面の電位分布観察, 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 石田謙司, 松重和美, 山田啓文, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  5. 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング, 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  6. マスク蒸着法による有機積層薄膜のAFM/KFMを用いた表面電位観察, 香取重尊, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 藤田静雄, 松重和美, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  7. 金属電極上に堆積したAlq3薄膜のKFMによる表面電位観察, 香取重尊, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 藤田静雄, 松重和美, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  8. 自己検出カンチレバーを用いたマルチプローブＡＦＭの開発とその基本性能, 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文, 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)

  9. 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング(2) 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文, 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)

  10. 誘電泳動法によるナノギャップ電極への分子配向とその電子物性評価, 鈴木一博, 改正清広, 佐藤宣夫, 宮戸祐治, 大村英治, 小林圭, 松重和美, 山田啓文, 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)

  11. 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング, 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文, ナノ学会第4回大会 (2006年5月)

  12. KFMによる強誘電体表面における表面電荷の分極挙動の評価, 中井章文, 佐藤宣夫, 小林圭, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)

  13. マルチプローブAFMの開発およびプローブ間相互作用の検出, 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文, 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)

  14. マルチプローブAFMの開発およびプローブ間相互作用の検出, 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文, 第44回茅コンファレンス (2006年9月)

  15. KFMによる強誘電体表面における表面電荷の分極挙動の評価, 中井章文, 佐藤宣夫, 小林圭, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第44回茅コンファレンス (2006年9月)

  16. 光てこ法を用いたマルチプローブAFMの開発, 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)

  17. ケルビンプローブ原子間力顕微鏡によるオリゴチオフェン結晶性薄膜の表面電位測定, 小野山有亮，小林圭，佐藤宣夫，改正清広，松重和美，山田啓文, 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)

  18. 光てこ法を用いたマルチプローブAFMの開発（2） 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)

  19. ナノギャップ電極に架橋したオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位測定, 小野山有亮，小林圭，佐藤宣夫，改正清広，松重和美，山田啓文, 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)

  20. 微小開口をもつAFM 探針からの溶液ナノディスペンシング(3), 改正清広，佐藤宣夫，小林圭，山田啓文，松重和美, 第55回応用物理学関係連合講演会 (2008年3月)

  21. マルチプローブAFM/KFMを用いた有機薄膜の電気特性評価, 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第55回応用物理学関係連合講演会 (2008年3月)

  22. FM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の光照射時の表面電位計測, 山木理生，佐藤宣夫，香取重尊，小林圭，松重和美，山田啓文, 第55回応用物理学関係連合講演会 (2008年3月)

  23. 金属電極に架橋したオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位測定, 小野山有亮，小林圭，佐藤宣夫，松重和美，山田啓文, 第55回応用物理学関係連合講演会 (2008年3月)

  24. 2探針AFM/KFMによる有機半導体薄膜の電子物性評価, 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第69回応用物理学会学術講演会 (2008年9月)

  25. 金属電極に架橋したオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位測定(2), 小野山有亮，小林圭，佐藤宣夫，松重和美，山田啓文, 第69回応用物理学会学術講演会 (2008年9月)

  26. FM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の光照射時の表面電位計測(2), 山木理生，佐藤宣夫，香取重尊，小林圭，藤田静雄，松重和美，山田啓文, 第69回応用物理学会学術講演会 (2008年9月)

  27. AFMを用いた光誘起力の高感度検出に関する一検討, 呉智珉，佐藤宣夫，引原隆士, 平成20年電気関係学会関西支部連合大会 (2008年11月)

  28. 圧電薄膜カンチレバーと試料間に働くシアフォースの計測, 松廣慎一郎，佐藤宣夫，引原隆士, 平成20年電気関係学会関西支部連合大会 (2008年11月)

  29. 電気二重層キャパシタにおける充放電特性に関する一検討, 佐藤宣夫, 美馬圭介, 引原隆士, 平成21年電気学会全国大会 (2009年3月)

  30. 斜入射光てこ法による2探針AFMの開発, 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第56回応用物理学関係連合講演会 (2009年3月)

  31. マイクロカンチレバー系への変調レーザ光による相互作用力およびその計測, 呉智珉，佐藤宣夫，引原隆士, 平成21年電気関係学会関西支部連合大会 (2009年11月)

  32. リチウム・イオン電池の放電特性に対する電気二重層キャパシタ併用による効果について, 美馬圭介，佐藤宣夫，引原隆士, 平成21年電気関係学会関西支部連合大会 (2009年11月)

  33. リチウムイオン電池・電気二重層キャパシタの併用効果に関する検討, 美馬圭介，佐藤宣夫，引原隆士, 電子通信エネルギー技術研究会 (2010年02月)

  34. 絶縁ゲートドライバを用いたSiパワーMOSFETの1MHzスイッチング特性, 文野貴司，佐藤宣夫，宅野嗣大，引原隆士， 平成23年電気関係学会関西支部連合大会 (2011年10月) 29A2-15

  35. SiパワーMOSFETを用いた高周波スイッチング実現に関する実験的一検討, 文野貴司，佐藤宣夫，宅野嗣大，引原隆士， 平成24年電気学会 半導体電力変換研究会 (2012年1月) SPC-12-017 (発表予定)

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受賞歴†

  1. 日本セラミック協会 第22回セラモグラフィック賞　技術部門銀賞　(1997年9月)
    　「純チタン板上に電気化学的に合成したリン酸カルシウム塩結晶の二次電子像と疑似カラー化した写真」

  2. 社団法人　日本電気技術者協会　(1998年3月)　「霜寿賞」


  3. 関西テクノアイデアコンテスト　努力賞　(2000年11月)
    「PZT カンチレバーを用いた近接場光学顕微鏡とレーザ励起蛍光分析との複合化装置」

  4. 関西テクノアイデアコンテスト ソニー特別賞　(2001年11月)
    「PZTカンチレバーを用いたポータブルAFM」

  5. 京都大学ベンチャービジネスラボラトリー若手研究助成受賞研究 優秀賞　(2001年6月)
    「導電性PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードAFMの開発改良」

  6. 関西テクノアイデアコンテスト'02 (KATIC'02) 努力賞　(2002年11月)
    「PZTカンチレバーを用いた太陽電池評価装置」

  7. 関西テクノアイデアコンテスト'04 (KATIC'04) グランプリ　(2004年11月)
    「マルチプローブ間距離制御が可能な原子間力顕微鏡」

  8. 京都大学 ナノ工学高等研究院 第三回若手研究者発表会　優秀賞　(2005年6月)
    「圧電薄膜カンチレバーを用いた多機能走査プローブ顕微鏡の開発」

  9. 関西テクノアイデアコンテスト'05 (KATIC'05) 京都大学総長賞　(2005年11月)
    「レッツアゴー」

  10. 京都大学 ナノ工学高等研究院 第四回若手研究者発表会　優秀賞　(2006年6月)
    「圧電薄膜カンチレバーを用いたマルチプローブSPMの開発」

  11. 平成20年電気関係学会関西支部連合大会 奨励賞（2009年4月）
    「ツインプローブ原子間力顕微鏡の開発とその基本性能」

  12. 京都大学グローバルＣＯＥ 研究奨励グラント（2010年12月）
    「近接場光圧力顕微鏡の開発と太陽電池界面評価への応用」

  13. 京都大学グローバルＣＯＥ 研究奨励グラント（2011年12月）
    「独立電源システム構築のためのワイドギャップ半導体による高速スイッチングに関する研究」

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