塚田 大貴

プロフィール†

• 氏名 ： 塚田 大貴（TSUKADA HIROTAKA）

• 生年月日 ： 2001年6月2日

• 出身 ：　千葉県船橋市

• 趣味 ： ゴルフ/スノーボード/レーシングカート/F1観戦

• 特技 ： 英語/ゴルフ/スノーボード/空手/バイオリン/水泳/将棋/レーシングカート/ボクシング

• マイブーム ： ゴルフ/スノーボード

• 尊敬する人 ： ウサイン・ボルト/イーロン・マスク

• 夢 ： トニー・スタークのような起業家/エンジニアになる

• 日々の目標 ： 日進月歩

略歴†

• 2017年4月　日本大学豊山高等学校 普通科 入学　
  
• 2017年3月　日本大学豊山高等学校 普通科 卒業　
  
• 2020年4月　千葉工業大学 工学部　機械電子創成工学科　入学　
  
• 2022年7月　同学科　半導体エネルギー変換工学研究室　配属　
  
• 2024年3月　千葉工業大学　工学部　機械電子創成工学科　卒業　
  
• 2024年4月　千葉工業大学　大学院　工学研究科　機械電子創成工学専攻　入学
  
• 2025年6月　株式会社 Aurantium Technology 創業
• 2026年3月　千葉工業大学　大学院　工学研究科　機械電子創成工学専攻　卒業見込み
  

研究業績†

【学位論文】

• 学士論文「多機能走査型プローブ顕微鏡用FM回路の高周波化に向けた基礎検討」(2024)
  

• 修士論文「走査型プローブ顕微鏡を用いたオペランド観測によるパワー半導体デバイス内部の電流経路可視化」(2026)
  

【投稿論文】

投稿中

【国際発表】

• Tsukada Hirotaka, Tsuji Taishi, Satoh Nobuo， "Nanoscale Analysis of Power Semiconductor Devices by using Multi-Purpose Scanning Probe Microscope",
  The 10th International Symposium on Surface Science(ISSS-10), Kitakyushu International Conference Center, [3P01-15] (2024/10/22).
  

• Hirotaka Tsukada, Daigo Sato, Nobuo Satoh, “Visualization of Internal Current Path in Power Semiconductor Devices Using a Multi-function Scanning Probe Microscope”,
  33rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM-33), Hotel Sunvalley Nasu, [S8-2] (2025/12/12).
  

【国内発表】

{本人登壇分}

• 塚田 大貴，辻 大士，山本 秀和，佐藤 宣夫，「多機能走査型プローブ顕微鏡を用いたパワー半導体デバイスのナノスケール観測」， 令和6年 電気学会産業応用部門大会，水戸市民会館，[Y-20] (2024/08/29).
  

{共同研究者分}

• 金子 万理夫, 塚田 大貴, 佐藤 宣夫, 「走査型プローブ顕微鏡による断面観測像に基づくパワー半導体デバイス内部の数値解析」, 令和8年 電気学会全国大会, [] (2026/03).
  

【その他】

• IIFES 2025 大学・高専テクニカルアカデミー　登壇, 「多機能走査型プローブ顕微鏡を用いたパワー半導体デバイスのナノスケール観測」．
  

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