Public Information†

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投稿論文†

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第１著者分†

  1. Photo radiation pressure at resonance of frequency modulated micro cantilever
    N. Satoh, J. Oh, T. Hikihara : Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE (NOLTA), Vol. 12, pp. 718-725 (2021)[ URL ]

  2. Driven by complementary operation of SiC-MOSFET and SiC-JFET within isolated flyback converter circuit
    N. Satoh, T. Hayashi, T. Ohsato, H. Arai, Y. Nishida : Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE (NOLTA), Vol. 9, pp. 337-343 (2018)[ URL ]

  3. Near-field light detection of a photo-induced force by atomic force microscopy with frequency modulation
    N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 56, 08LB03 (2017) [http://iopscience.iop.org/article/10.7567/JJAP.56.08LB03 ]

  4. Using dynamic force microscopy with piezoelectric cantilever for indentation and high-speed observation
    N. Satoh, M. Nakahara, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, and H. Yamada : Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE (NOLTA), Vol. 8, pp.98-106 (2017) [ URL ]

  5. Optical and mechanical detection of near-field light by atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever
    N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 55, 08NB04 (2016) [http://iopscience.iop.org/article/10.7567/JJAP.55.08NB04 ]

  6. Surface Potential Measurement of Fullerene Derivative/Copper Phthalocyanine on Indium Tin Oxide Electrode by Kelvin Probe Force Microscopy
    N. Satoh, M. Yamaki, K. Noda, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 54, 08KF06 (2015) [doi:10.7567/JJAP.54.08KF06]

  7. Twin-probe atomic force microscopy with optical beam deflection using vertically incident lasers by two beam splitter
    N. Satoh, E. Tsunemi, K. Kobayashi, T. Komatsubara, S. Higuchi, K. Matsushige, H. Yamda : IEEJ Trans. on Sens. and Micro., Vol. 135 (2015) 135-141 [in Japanese] [http://dx.doi.org/10.1541/ieejsmas.135.135]

  8. Surface Potential Investigation of Fullerene Derivative Film on Platinum Electrode under UV Irradiation by Kelvin Probe Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever
    N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada : e-J. Surf. Sci. Nanotech. Vol. 13 (2015) 102-106 [DOI http://dx.doi.org/10.1380/ejssnt.2015.102]

  9. Surface Potential Measurement of Organic Multi-layered Films on Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy
    N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada : IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E98-C, pp.91-97 (2015) [Online ISSN: 1745-1353]

  10. Scanning near-field optical microscopy system based on frequency-modulation atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever
    N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 53, 125201 (2014) [doi:10.7567/JJAP.53.125201]

  11. Surface Potential Measurement of Fullerene/Copper Phthalocyanine Films on Indium Tin Oxide Electrode by Kelvin Probe Force Microscopy
    N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 53 05FY03 (2014) [doi:10.7567/JJAP.53.05FY03]

  12. Multi-Probe Atomic Force Microscopy Using Piezo-resistive Cantilevers and Interaction Between Probes
    N. Satoh, E. Tsunemi, K. Kobayashi, K. Matsushige, and H. Yamada : e-J. Surf. Sci. Nanotech. Vol. 11 (2013) 13-17 [DOI 10.1380/ejssnt.2013.13]

  13. Energy Band Diagram near the Interface of Aluminum Oxide on p-Si Fabricated by Atomic Layer Deposition without/with Rapid Thermal Cycle Annealing Determined by Capacitance―Voltage Measurements
    N. Satoh, I. Cesar, M. Lamers, I. Romijn, K. Bakker, C. Olson, D. Oosterling-Saynova, Y. Komatsu, F. Verbakel, M. Wiggers and A. Weeber : e-J. Surf. Sci. Nanotech. Vol. 10 (2012) 22-28 [DOI 10.1380/ejssnt.2012.22]

  14. Surface Potential Measurement of Organic Thin Film on Metal Electrodes by Dynamic Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever
    N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada : J. Appl. Phys. Vol. 109 (2011) 114306-114310 [DOI]

  15. Near-field light detection by conservative and dissipative force modulation methods using a piezoelectric cantilever
    N. Satoh, T. Fukuma, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, and H. Yamada : Appl. Phys. Lett. Vol.96 (2010) 233104-233107. [URL]

  16. Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers
    N. Satoh, E. Tsunemi, Y. Miyato, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys. Vol.46 (2007) 5543-5547

  17. Investigations of Nanoparticles by Scanning Near-Field Optical Microscopy Combined with Kelvin Probe Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever
    N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige : Jpn. J. Appl. Phys. Vol.43 (2004) 4651-4654

  18. Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties by Dynamicmode AFM Using a Piezoelectric cantilever
    N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, H. Yamada, K. Matsushige : Jpn. J. Appl. Phys. Vol.42 (2003) 4878-4881

  19. Investigations of local surface properties by SNOM combined with KFM using a PZT cantilever
    N. Satoh, S. Watanabe, T. Fujii, K. Kobayashi, H. Yamada, K. Matsushige : IEICE TRANSACTIONS on Electronics, Vol.E85-C (2002) 2071-2076.[ URL ]

  20. Investigations of local surface properties by SNOM combined with KFM using a PZT cantilever
    N. Satoh, K. Kobayashi, H. Yamada, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, K. Matsushige : Appl. Surf. Sci. Vol.188 (2002) 425-429.[doi:10.1016/S0169-4332(01)00969-2 ]

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共著者分†

  1. Observation of Power MOSFET Composed of Silicon Carbide with a Planar Type in the Voltage Applying State Using a Scanning Probe Microscope
    A. Doi, N. Satoh and H. Yamamoto : IEEJ Trans. on Sens. and Micro., Vol. 141 (2021) 349-355 [in Japanese] [URL]

  2. Evaluation of silicon carbide Schottky barrier diode within guard ring by multifunctional scanning probe microscopy
    K. Nakayama, S. Masuda, N. Satoh and H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 59, SN1014 (2020) [URL]

  3. Development of atomic force microscopy combined with scanning electron microscopy for investigating electronic devices
    Takeshi Uruma, Chiaki Tsunemitsu, Katsuki Terao, Kenta Nakazawa, Nobuo Satoh, Hidekazu Yamamoto, and Futoshi Iwata : AIP Advances 9, 115011 (2019) [URL]

  4. Characterization of Polycrystalline Solar Cell by Scanning Laser Magnetic Microscopy
    H. Okada, K. Yabumoto, and N. Satoh : IEEJ Trans. on Sens. and Micro., Vol. 139 (2019) 335-340 [in Japanese] [URL]

  5. Cross-sectional observation in nanoscale for Si power MOSFET by atomic force microscopy/Kelvin probe force microscopy/scanning capacitance force microscopy
    A. Doi, M. Nakajima, S. Masuda, N. Satoh and H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 58, SIIA04 (2019) [URL]

  6. Imaging of an n- layer in a silicon fast recovery diode under applied bias voltages using Kelvin probe force microscopy
    T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 57, 08NB11 (2018) [URL]

  7. Nanoscale investigation of the silicon carbide double-diffused MOSFET with scanning capacitance force microscopy
    M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 57, 08NB09 (2018) [URL]

  8. Nanoscale investigation on charge active/transport layer of organic solar cells by the scanning capacitance force microscopy
    S. Mochizuki, N. Satoh, and S. Katori : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 57, 08NB05 (2018) [URL]

  9. Overview of Crystal for Power Devices
    Hidekazu YAMAMOTO, Nobuo SATOH, Tamotsu HASHIZUME : J. Inst. Elect. Engnr. Jpn., Vol. 137, PP.673-674 (2017) [URL]

  10. Nanoscale observation of organic thin film by atomic force microscopy
    S. Mochizuki, T. Uruma, N. Satoh, S. Saravanan and T. Soga : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 56, 08LB08 (2017) [URL]

  11. Evaluation of carrier concentration reduction in GaN-on-GaN wafers by Raman spectroscopy and Kelvin force microscopy
    H. Yamamoto, K. Agui, Y. Uchida, S. Mochizuki, T. Uruma, N. Satoh and T. Hashizume : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 56, 08LB07 (2017) [URL]

  12. Observation of silicon carbide Schottky barrier diode under applied reverse bias using atomic force microscopy/Kelvin probe force microscopy/scanning capacitance force microscopy
    T. Uruma, N. Satoh and H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 56, 08LB05 (2017) [URL]

  13. Surface potential measurement of n-type organic semiconductor thin films by mist deposition via Kelvin probe microscopy
    A. Odaka, N. Satoh and S. Katori : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 56, 08LB04 (2017) [URL]

  14. Non-resonant frequency components observed in a dynamic Atomic Force Microscope
    Hokuto Nagao, Takeshi Uruma, Kuniyasu Shimizu, Nobuo Satoh, Koji Suizu : Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE (NOLTA), Vol. 8, pp.118-128 (2017) [ URL ]

  15. Investigation of the depletion layer by scanning capacitance force microscopy with Kelvin probe force microscopy
    T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 55, 08NB10 (2016). [http://iopscience.iop.org/article/10.7567/JJAP.55.08NB10 ]

  16. Surface Potential and Topography Measurements of Gallium Nitride on Sapphire by Scanning Probe Microscopy
    T. Uruma, N. Satoh, and H. Ishikawa : IEEJ Trans. on Sens. and Micro., Vol. 136 (2016) 96-101 [in Japanese] [http://doi.org/10.1541/ieejsmas.136.96]

  17. Surface Potential Measurement of Tris(8-hydroxyquinolinato)aluminum and Bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl]benzidine Thin Films Fabricated on Indium–Tin Oxide by Kelvin Probe Force Microscopy
    S. Katori, N. Satoh, M. Yahiro, K. Kobayashi, H. Yamada, K. Matsushige, and S. Fujita : Jpn. J. Appl. Phys. Vol.50 (2011) 071601 (4page) [DOI]

  18. Nanoscale liquid droplet deposition using the ultrasmall aperture on a dynamic mode AFM tip
    K. Kaisei, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, and H. Yamada : Nanotechnology Vol. 22 (2011) 175301 -175305 [URL]

  19. Local Potential Imaging of a Multilayer Ceramic Capacitor Using Kelvin Probe Force Microscopy
    T. Komatsubara, S. Higuchi, K. Nishikata, N. Satoh, K. Kobayashi and H. Yamada: Microscopy and Microanalysis, Vol.14 (2008) 960-961. [ http://dx.doi.org/10.1017/S1431927608084298]

  20. Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method
    E. Tsunemi, N. Satoh, Y. Miyato, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada : Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 46 (2007) 5636-5638

  21. Distribution of Silicon of Bamboo Charcoal by SEM/EDS
    S. Mochimaru, K. Ohtani, K. Tomita, T. Minamide, N. Satoh, K. Kobayashi : Bamboo J. Vol.22 (2005) 71-80 [in Japanese]

  22. Impurity reduction and crystalline quality improvement due to isovalent doping(In) in GaAs epilayers on Si substrate by Chemical Beam Epitaxy
    S. Saravanan, M. Adachi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno : J. Crys. Growth Vol.209 (2000) 621-624

  23. Stress reduction and structural quality improvement due to In doping in GaAs / Si
    S. Saravanan, M. Adachi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno : Mat. Sci. Eng. B Vol.68 (2000) 166-170
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特許†

  1. 特願2008－314113
    「走査型プローブ顕微鏡の出力処理方法および走査型プローブ顕微鏡」
    　常見英加、佐藤宣夫、小林圭、山田啓文、松重和美

  2. 特願2007-91856
    「３次元場取得装置、方法およびプログラム、磁気力顕微鏡、情報読み取り装置、電流分布測定装置、生体磁場測定装置、非破壊検査装置」
    木村建次郎, 小林圭, 山田啓文, 堀内喬, 佐藤宣夫, 松重和美

  3. 特願2006-141840
    「顎関節振動による全く新しいバイオメトリックス認証」
    　佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 松重和美

  4. 特願2004-331103
    「表面状態計測方法、表面状態計測装置、顕微鏡、情報処理装置」
    　佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 松重和美

  5. 特願2004-253156
    「積層型有機・無機複合高効率太陽電池」
    　佐藤宣夫, 香取重尊, 藤田静雄, 松重和美

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その他†

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書籍†

  1. 「有機デバイスのための界面評価と制御技術 」シーエムシー出版 岩本光正 監修 執筆分第I編【界面現象の観察と界面構造】［電子デバイス界面］の第５章「原子間力顕微鏡とケルビンプローブ表面力顕微鏡（KPFM）による発光素子の解析」(pp53～73)（執筆者数31名）ISBN 978-4-7813-0159-4　（2009年08月）

  2. 「続・洛中洛外ナノテクばなし」 第２章「明日のものづくりとナノテク―機器の高性能化に生かす」の第一九話 “ナノスケールでお箸が使えたら”(pp. 69-70) ISBN 978-4-526-05972-8（2007年11月）

  3. 「有機基板上の電子デバイス」シーエムシー出版 坂本正則 監修 執筆分第５章「デバイス・応用」の第６節「無機・有機積層型フレキシブル太陽電池」(pp189～195)（執筆者数50名）ISBN 4-88231-556-4　（2006年05月）

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千葉工業大学 研究報告†

  1. 「蓄電素子を複合化したポータブル電源の開発」 佐藤 宣夫，牛崎 拓：Vol.64, pp.9-14（2017）[URL]

  2. 「太陽光パネルにおける陰影に伴う出力変動特性」 佐藤 宣夫，水野 健一：Vol.63, pp.9-13（2016）[URL]

  3. 「SiCパワーMOSFETの静特性／動特性評価」 佐藤 宣夫，山本 秀和：Vol.62, pp.23-27（2015）[URL]

  4. 「ケルビンプローブ表面力顕微鏡の開発とその基礎特性」 佐藤 宣夫，脇田 和樹：Vol. 61, pp.53-58（2014）[ISSN 0385-7026]

  5. 「大容量・高速動作用ダイオードの周波数特性」 佐藤宣夫：Vol. 60, pp.41-46（2013）[URL]

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国際学会発表†

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(本人登壇分)†

  1. A four-wheel rover controlled by power packet technology based on high-speed switching power supply, N. Satoh, H. Arai, 2020 International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2020) C4L-D2(9070) (2020/11/18)

  2. Investigation of power semiconductor devices under applying voltage by multi-purpose scanning probe microscope, N. Satoh, A. Doi, H. Yamamoto, IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in ASIA 2020 (WiPDA-Asia), pp.32-35 (2020). URL

  3. Nanoscale Investigation of Power Semiconductor Devices by Scanning Capacitance Force Microscopy, N. Satoh, A. Doi, S. Masuda, H. Yamamoto, EPE’19 ECCE Europe, 149 (2019/09/05)

  4. Nanoscale Investigation of the Power Semiconductor Devices by Scanning Capacitance Force Microscope, N. Satoh, H. Yamamoto, 14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) in conjunction with 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26), 22P050 (2018/10/22)

  5. Development of evaluation system for solar cell by scanning with lens-focused white LED illumination, Nobuo Satoh, Hideaki Okada, Kai Yabumoto, 7th edition of the World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC-7), H9-681 (2018/06/13)

  6. Verification of charge and discharge system composed of multiple lithium ion batteries, N. Satoh, A. Kosugi, H. Arai and M. Uchida, The 20th Interntional Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS2017), ID:457 (2017/08/12)

  7. Near-field Light Detection as photo-induced force by Atomic Force Microscopy with Frequency Modulation, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24) S4-8 (2016/12/14)

  8. Flyback Converter Using SiC Power-MOSFET to Achieve High Frequency Operation Over 10MHz, Nobuo Satoh, Yasuyuki Nishida, 2016 International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2016) 1083 (2016/11/28)

  9. Optical and Mechanical Detection of Near-field Light by Atomic Force Microscopy using a Piezoelectric Cantilever, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe,T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada, 23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23), S4-43 (2015/12/10)

  10. Development of Multi-Probe Atomic Force Microscope and Probe Interaction , N. Satoh, 2015 International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2015) 6184 (2015/12/03)

  11. A Flyback Converter using Power MOSFET to Achieve High Frequency Operation beyond 13.56MHz, N. Satoh, H. Otake, T. Nakamura, T. Hikihara, The 41st Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON2015), YF-006262 (2015/11/10)

  12. Surface Potential Measurement of Fullerene Derivative / Copper Phthalocyanine on Indium Tin Oxide Electrode by Kelvin Probe Force Microscopy, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, The 6th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion, 6WePo.2.28 (2014/11/26)

  13. Surface potential investigation of fullerene derivative film on platinum electrode under UV irradiation by Kelvin probe force microscopy using a piezoelectric cantilever, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada, The 7th International Symposium on Surface Science (ISSS-7) 3PN-31 (2014/11/03)

  14. Surface Potential Measurement of p-type Organic Semiconductor Thin Films by Mist-vapor Deposition, N. Satoh, T. Uruma, A. Odaka and S. Katori, Korea Japan Joint Forum 2014 "Organic Materials for Electronics and Photonics (KJF-ICOMEP2014) PB075 (2014/09/23)

  15. High-speed switching operation of wide band-gap semiconductor and its circuit application Nobuo Satoh, International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2014) Short Course A (3) (2014/09/08)

  16. Surface Potential Measurement of Organic Multi-layered Thin Films on Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy, Nobuo Satoh, Shigetaka Katori, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige and Hirofumi Yamada, The 8th International Symposium on Organic Molecular Electronics (ISOME2014) (2014/05/15)

  17. Surface Potential Measurement of Fullerene on Copper Phthalocyanine / Indium Tin Oxide Electrode by Kelvin Probe Force Microscopy, Nobuo Satoh, Shigetaka Katori, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige and Hirofumi Yamada, 2013 JSAP-MRS Joint Symposia, 18p-PM6-6 (2013/09/18)

  18. Kelvin probe microscopy for depicting band energy diagram of organic semiconductors, Nobuo Satoh, Large Scale Research Project (LSRP-2012), Baku, Azerbaijan (2012/11/10)

  19. Surface Potential Measurement of PCBM/CuPc Films on Indium Tin Oxide Electrode by DFM/KPFM, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige, and H. Yamada, PRiME 2012, A2-278, Honolulu, Hawaii (2012/10/10)

  20. Surface potential measurement of multilayer organic thin films by Kelvin probe method, Nobuo Satoh, The Dutch Solar R&D Seminar 2010, Jaarbeurs Utrecht (2010/09/29)

  21. Investigation of local surface properties by dynamic force microscopy using a piezo-electric cantilever, Nobuo Satoh, 2009 MicRO Alliance in IMTEK, Freiburg University (2009/07/27)

  22. Detection of Photo-induced Force by Frequency Modulation Detection-based Dynamic Force Microscopy, Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada, The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (2008年11月)

  23. Local surface potential measurements of oligothiophene molecular films connected to nano-gap metallic electrodes by Kelvin probe force microscopy, N. Satoh, Y. Onoyama, K. Kaisei, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, CREST Workshop on Molecular Nano-Electronic Devices (2007年11月)

  24. Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers, N. Satoh, E. Tsunemi, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)

  25. Surface potential measurement of a-sexithiophene by Kelvin probe force microscopy utilizing frequency modulation detection method, N. Satoh, K. Kaisei, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)

  26. Dynamic Force Microscopy using Dissipative Force Modulation for Near-field Light Detection, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, 9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (2006年7月)

  27. Near-field Light Detection by Dissipative Force Modulation Method in FM-DFM using a PZT Cantilever, N. Satoh, T. Fukuma, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, Materials Research Society Fall Meeting (2005年12月)

  28. Surface Potential Measurement of Organic thin Film by Kelvin Probe Force Microscopy Using a PZT Cantilever, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, The 4th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (2005年11月)

  29. Dynamic Force Microscopy by Dissipative Force Modulation using a Piezoelectric Cantilever for Near-field Light Detection, N. Satoh, T. Fukuma, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada, 13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques (2005年7月)

  30. Surface Potential Measurement of Organic thin Films by Kelvin Probe Force Microscopy using a PZT Cantilever, N. Satoh, S. Katori , M. Yahiro, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige, Third International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (2005年3月)

  31. Near-Field Light Detection by Dissipative Force Modulation Using a PZT Cantilever DFM/SNOM, N. Satoh, T. Fukuma , K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige, The 12th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2004年12月)

  32. Investigations of Nanoparticles by SNOM Combined with KFM Using a PZT Microfabricated Cantilever, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige, The 11th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2003年12月)

  33. Investigation of nanoparticles by dynamic-mode AFM using a PZT cantilever, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada and K. Matsushige, 7th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, and Nanostructures (2003年11月)

  34. Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties of Organic Ultrathin Films by Dynamic-Mode AFM Using a Piezoelectric Cantilever, N. Satoh, M. Nakahara, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, S. Hotta, H. Yamada and K. Matsushige, 2nd International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (2003年3月)

  35. Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties by Dynamic-mode AFM Using a Conductive PZT Cantilever, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, H. Yamada, K. Matsushige, The 10th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2002年10月)

  36. Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: Investigation of local optical and electrical properties, N. Satoh, K. Kobayashi, H. Yamada, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, K. Matsushige, 4th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (2001年9月)

  37. Growth of GaInP with an intermediate GaP layer on Si Substrate by Chemical Beam Epitaxy, N .Satoh, M. Adachi, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno, 11th International Photovoltaic Science and Engineering Conference, P-I-69 (1999年9月)

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(共同研究者分)†

  1. Observation of Power MOSFET Composed of Silicon Carbide with a Planar Type in the Voltage Applying State Using a Scanning Probe Microscope, Atsushi Doi, Nobuo Satoh, Hidekazu Yamamoto, 30th IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE2021), [TS-59.1] (2021) .

  2. Design of isolated class-Φ_2 DC-DC converter based on harmonic analysis technology Kentaro Nakayama, Tomoyuki Tamura, Xiuqin Wei, Nobuo Satoh, 30th IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE2021), [TS-41.3] (2021) .

  3. Visualization of Current Distribution by Subsurface Magnetic Field Imaging System for the Cockcroft-Walton Circuit and Their Components Masaki Sumi, Nobuo Satoh, 30th IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE2021), [TS-12.1] (2021) .

  4. Evaluation of internal structure of GaN high electron mobility transistor, K. Kato, K. Nakayama, N. Satoh, H. Yamamoto, 28th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM28), S5-6 (2020). (URL:https://dora.bk.tsukuba.ac.jp/event/ICSPM28/ja/all_program#Poster )

  5. A Study on MHz Switching Operation in Flyback Converter for Lithium Ion Battery and its Parallelization, K. Nakayama, N. Satoh, IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in ASIA 2020 (WiPDA-Asia), pp.70-74 (2020). URL

  6. HESO: a Heterogeneous Energy Spreading Object – an Application of Power Packet Technology to Mobile Vehicle, H. Arai, T. Matsuda, H. Takai, K. Nakayama, N. Satoh, IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in ASIA 2020 (WiPDA-Asia), pp.81-85 (2020). http://wipda-asia2020.org/proceeding/pdf/paper17.pdf:URL

  7. Nanoscale observation of power semiconductor devices in operation state by scanning probe microscope, A. Doi, N. Satoh and H. Yamamoto, 27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27), S7-3 (2019/12/6)

  8. Development of an atomic force microscope combined with a scanning electron microscope for investigation of electronic properties of an actual semiconductor device, T. Uruma, C. Tunemitu, K. Terao, N. Satoh, H. Yamamoto, K. Nakazawa, F. Iwata, 27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27), https://dora.bk.tsukuba.ac.jp/event/ICSPM27/ja/all_program#Poster:S4-43 (2019/12/5)

  9. Nanoscale observation of power semiconductor devices in operation state by scanning probe microscope, K. Nakayama, S. Masuda, N. Satoh, H. Yamamoto, 27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27), https://dora.bk.tsukuba.ac.jp/event/ICSPM27/ja/all_program#Poster:S4-47 (2019/12/5)

  10. Observation of power semiconductor devices on cross-sectional surface by scanning probe microscope, A.Doi, N.Satoh, H.Yamamoto, Y.Miyato, H.Nozaki, H.Nakamoto, and Y.Terui, 32nd International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2019), 30P-7-47 (2019/10/30)

  11. Cross sectional observation in nanoscale for Si power MOSFET by AFM/KFM/SCFM, A. Doi, M. Nakajima, N. Satoh and H. Yamamoto, 14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) in conjunction with 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26), 25C08 (2018/10/25)

  12. Development of Scanning Capacitance Force Microscopy using the Dissipative Force Modulation Method, T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto and F. Iwata 14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14)in conjunction with 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26), 22P042 (2018/10/22)

  13. Nanoscale investigation of the silicon carbide power MOSFET by scanning probe microscope, M. Nakajima, A. Doi, Y. Uchida, M. Kojima, N. Satoh, A. Oda and H. Yamamoto, 14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14)in conjunction with 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26), 22P043 (2018/10/22)

  14. High Frequency Isolated Flyback Converter and Cascaded Boost DC-DC Converter Hybrid System for Packet Energy Distribution System, Yasuyuki Nishida and Nobuo Satoh, 2018 International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2018) 5162 (2018/09/03)

  15. Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/KFM/SCFM, M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 2018 International Power Electronics Conference (IPEC2018), 23P7-2 (2018/05/23)

  16. Imaging of an n- layer of an Si fast recovery diode using Kelvin probe force microscopy, T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata, International Scanning Probe Microscopy 2018 (ISPM2018), (2018/5/11)

  17. Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/KFM/SCFM, M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 25th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM25), Shizuoka, Atagawa, S4-70 (2017/12/07)

  18. Nanoscale investigation on active layerof organic solar cells by the FM-AFM/KFM/SCFM, S. Mochizuki, N. Satoh, and S. Katori, The 25th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM25), Shizuoka, Atagawa, S4-69 (2017-12)

  19. Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/KFM/SCFM, M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8), 4PA-22 (2017/10/24)

  20. Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/KFM/SCFM, M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, 25th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM25), S4-70 (2017/12/07)

  21. Nanoscale investigation on active layer of organic solar cells by the FM-AFM/KFM/SCFM, S. Mochizuki, N. Satoh, S.Katori, 25th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM25), S4-69 (2017/12/07)

  22. Surface potential measurement of silicon fast recovery diode under applied bias voltage using FM-AFM/KFM, T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, F. Iwata, 25th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM25), S4-64 (2017/12/07)

  23. Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/KFM/SCFM, M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8), 4PA-22 (2017/10/24)

  24. A Flyback Converter using power-MOSFETs to Achieve High Frequency Operation beyond 10 MHz, T. Ohsato, N. Satoh and H. Sekiya, 2017 IEEE 3rd International Future Energy Electronics Conference and ECCE Asia (IFEEC 2017 - ECCE Asia), #1460 (2017/06/07)

  25. Surface Potential Measurement by Kelvin Probe Force Microscopy for Organic Semiconductor Thin Films using Mist Deposition, A. Odaka, N. Satoh, S. Katori, 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24) S4-9 (2016/12/14)

  26. Observation of the Silicon Carbide Schottky Barrier Diode under Applied Bias Voltage using FM-AFM/KFM/SCFM, T. Uruma, N. Satoh and H. Yamamoto, 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24) S4-10 (2016/12/14)

  27. Evaluation of Carrier Concentration Reduction in GaN on GaN Wafers by Raman Spectroscopy and Kelvin Force Microscopy, H. Yamamoto, K. Agui, Y. Uchida, S. Mochizuki, T. Uruma, N. Satoh, T. Hashizume, 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24) S4-11 (2016/12/14)

  28. Nanoscale observation of organic heterojunction containing ZnO nanoparticles by AFM/KFM, S. Mochizuki, N. Satoh, S. Saravanan and T. Soga, 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24) S4-12 (2016/12/14)

  29. Frequency Characteristics of the Piezoelectric Device for the Floor-Vibration Generation, Ryosuke Nishikawa and Nobuo Satoh, The 19th Interntional Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS2016), DS6G-4-16 (2016/11/16)

  30. Nanoscale Investigation of Organic Semiconductor Films by Vacuum Evaporation and Mist Deposition Using AFM/KFM Measurement, Akihiro Odaka, Nobuo Satoh, and Shigetaka Katori, The 19th Interntional Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS2016), DS6G-2-19 (2016/11/16)

  31. A Study of the Water Generation from Atmosphere by Using the Peltier Devices, Atsushi Kosugi and Nobuo Satoh, The 19th Interntional Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS2016), DS4G-4-9 (2016/11/15)

  32. Investigation of the Surface Potential and the Depletion layer of Silicon-Schottky Barrier Diode -Evaluation by Scanning Probe Microscopy -, Takeshi Uruma, Nobuo Satoh, Kyouhei Komori, Akinori Oda, and Hidekazu Yamamoto, The 19th Interntional Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS2016), DS4G-2-3 (2016/11/15)

  33. Investigation on the Surface Potential and the Depletion Layer of Si-Schottky Barrier Diode -Evaluation by Numerical Calculation-, Kyohei Komori, Akinori Oda, Takeshi Uruma, Nobuo Satoh, and Hidekazu Yamamoto, The 19th Interntional Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS2016), DS4G-2-2 (2016/11/15)

  34. A Study of Passive Elements for Isolated Flyback Converter, Tatsuki Ohsato and Nobuo Satoh, The 19th Interntional Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS2016), DS1G-2-9 (2016/11/14)

  35. Observation of the Schottky barrier diode under applied bias voltage with Kelvin probe force microscopy, T. Uruma, N. Satoh, 23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23), S4-12 (2015/12/10)

  36. Surface Potential Measurement of α-NPD Thin Film Fabricated by Mist-Vapor Deposition and Vacuum Evaporation Methods, S. Katori, A. Odaka, T. Uruma, N. Satoh, Eighth International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (M&BE8), B-P06 (2015/06/22)

  37. Mechanical Behavior of a Cantilever Probe Influenced by Sample Surface, K. Shimizu, H. Nagao, T. Uruma, N. Satoh, K. Suizu, 2014 IEEE Workshop on Nonlinear Circuit Networks, 13PM2-1 (2014/12/13)

  38. Study of Nano-crystals in CdS:O Thin Films by Kelvin Probe Force Microscopy, M. Nakajima, R. Asaba, A. Suzuki, N. Sato, Y. Shim, K. Wakita, K. Khalilova, N. Mamedov, A. Bayramov, and E. Huseynov, The 6th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion, 3WePo.6.22 (2014/11/26)

  39. Nanostructure of CdS:O thin films by cathode sputtering, M. Nakajima, R. Asaba, A. Suzuki, N. Sato, K. Wakita, Y. Shim, N. Mamedov, A. Bayramov and E. Huseynov, 2013 JSAP-MRS Joint Symposia, 18p-PM5-21 (2013/09/18)

  40. Evaluation of surface potential of CuPc/C60 thin film fabricated on ITO electrode by using FM-KFM technique, S. Katori, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada, and S. Fujita, International Conference on Materials and Advanced Technologies, Singapore [#R8-5] (2011/06/30)

  41. Surface Potential Measurement of CuPc/C60 Thin Film Fabricated on ITO Electrode by using FM-KFM Technique, S. Katori, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Fujita, K. Matsushige, H. Yamada, Materials Research Society Fall Meeting 2010 [E8.39] (2010/12/01)

  42. A Study On Detection Of Modulated Laser With MEMS Cantilever Resonator, Jimin Oh, Nobuo Satoh, and Takashi Hikihara, 2009 MicRO Alliance in IMTEK, Freiburg University (2009/07/27)

  43. Local Electrical Measurement of Organic Thin Films with Two-probe AFM/KFM, Eika Tsunemi, Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada, The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (2008年11月)

  44. Development of Two-probe Frequency Modulation AFM/KFM for Nanometer-scale Electrical Measurement, Eika Tsunemi, Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada, 11th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (2008年9月)

  45. Local Potential Imaging of a Multilayer Ceramic Capacitor Using Kelvin Probe Force Microscopy, T Komatsubara, S Higuchi, K Nishikata, N Satoh, K Kobayashi, H Yamada, Microscopy & Microanalysis 2008 Meeting (2008年8月)

  46. Development of Two-probe AFM with Optical Beam Deflection Method, Eika Tsunemi, Nobuo Satoh, Kei Kobayashi, Kazumi Matsushige, Hirofumi Yamada, International Conference on Nanoscience + Technology (2008年7月)

  47. Surface potentials of PCBM molecular films under light irradiation investigated by FM-DFM/KFM, M. Yamaki, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2007年12月)

  48. Local Surface Potential Measurements on Oligothiophene Molecular Films between Metallic Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy, Y. Onoyama, K. Kobayashi, N. Satoh, K. Matsushige and H. Yamada, 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2007年12月)

  49. Development of Multi-Probe AFM with Optical Beam Deflection Method, E.Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada, Materials Research Society Fall Meeting (2007年11月)

  50. Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, CREST Workshop on Molecular Nano-Electronic Devices (2007年11月)

  51. Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada, 10th International NC-AFM Conference (2007年9月)

  52. Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)

  53. Local polarized domains of ferroelectric materials investigated by Kelvin probe force microscopy, A. Nakai, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)

  54. Development of Multi-probe Atomic Force Microscope System with Self-sensing Cantilevers, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, The 16th International Microscopy Congress (2006年9月)

  55. Development of a multi-probe AFM system with self-sensing cantilevers, E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada, 9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (2006年7月)

  56. Study of Organic and Inorganic Accumulating Type of Flexible Solar Cell S. Katori, N. Satoh, S. Fujita, K. Matsushige International Conference on Organic Materials Technology (2005年7月)

  57. Observation of surface potential by Kelvin probe force microscopy for fabrication of electrode / organic thin film, S. Katori, N. Satoh, M. Yahiro, S. Fujita and K. Matsushige, Korea Japan Joint Forum 2004 "Organic Materials for Electronics and Photonics (2004年11月)

  58. Growth of GaInP on Si Substrate by Chemical Beam Epitaxy, M. Adachi, N. Kishi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno, 7th International Conference on Chemical Beam Epitaxy and Rerated Growth Techniques (1999年7月)

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国内会議†

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（本人登壇分）†

  1. 走査型容量原子間力顕微鏡によるパワー半導体デバイスのナノスケール評価， 佐藤宣夫，山本秀和， 第38回 ナノテスティングシンポジウム (2018/11/19) (4)

  2. リチウムイオン二次電池の等価回路モデルの一検討， 佐藤宣夫，牛崎 拓，新井浩志，木村建次郎 平成28年電気学会全国大会 (2016/03/16) 4-131

  3. ナノテクノロジーの動向と鉄道応用の可能性， 佐藤宣夫， 平成28年電気学会全国大会 (2016/03/16) S20-10

  4. 蓄エネシステムとその応用, 佐藤宣夫，芦田有治，蓑輪義文，弦田幸憲，西田保幸，大森英樹， 平成25年電気学会産業応用部門大会 (2013年08月) 1-S9-4 pp.43-48

  5. １MHz動作のフライバックコンバータ回路の挙動解析, 佐藤宣夫，ローカルPE道場@千葉工大 (2012年07月) [2]

  6. SiパワーMOSFETを用いた5MHzスイッチング動作による絶縁型フライバックコンバータの挙動解析, 佐藤宣夫，文野貴司，大嶽浩隆，中村孝，引原隆士， 平成24年電気学会 電子回路研究会 (2012年06月) ECT-12-055

  7. SiC製DMOSFETを用いた絶縁型フライバックコンバータの1MHzスイッチング動作, 佐藤宣夫，文野貴司，大嶽浩隆，中村孝，引原隆士， 平成24年電気学会全国大会 (2012年03月) 4-158

  8. 絶縁型フライバックコンバータの1MHzスイッチングにおける挙動解析, 佐藤宣夫，文野貴司，宅野嗣大，大嶽浩隆，中村孝，引原隆士， 平成24年電気学会 半導体電力変換研究会 (2012年1月) SPC-12-018

  9. SiパワーMOSFETを用いた1MHzスイッチング動作時におけるフライバックコンバータの挙動解析, 佐藤宣夫，文野貴司，宅野嗣大，大嶽浩隆，中村孝，引原隆士， 平成23年電気関係学会関西支部連合大会 (2011年10月) 29A2-16

  10. FM-DFM/KFMを用いた有機分子積層膜の表面電位計測, 佐藤宣夫，香取重尊，小林 圭，山田啓文，松重和美, 第57回応用物理学関係連合講演会 (2010年3月)

  11. 多直多並列接続された リチウムイオン二次電池の評価, 佐藤宣夫, 美馬圭介, 引原隆士 平成22年電気学会全国大会 (2010年3月)

  12. ツインプローブ原子間力顕微鏡の開発とプローブ間距離制御, 佐藤宣夫，常見英加，小林圭，小松原隆司，樋口誠司，山田啓文，松重和美, 平成21年電気関係学会関西支部連合大会 (2009年11月)

  13. 有機/無機複合型太陽電池のための表面電位観察, 佐藤宣夫, 山木理生, 香取尊重, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, 平成21年電気学会全国大会 (2009年3月)

  14. ツインプローブ原子間力顕微鏡の開発とその基本性能, 佐藤宣夫，常見英加，小林圭，小松原隆司，樋口誠司，山田啓文，松重和美, 平成20年電気関係学会関西支部連合大会 (2008年11月)

  15. 京都から発信！京都電気自動車（Kyoto-Car)の取り組み紹介， 佐藤宣夫， テクノ愛'08(2008年11月)

  16. 可視光入射によるFM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の表面電位計測, 佐藤宣夫，山木理生，香取重尊，小林圭，藤田静雄，松重和美，山田啓文, 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)

  17. マルチプローブ原子間力顕微鏡の探針間距離制御, 佐藤宣夫，常見英加，小林圭，渡辺俊二，藤井透，松重和美，山田啓文, 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)

  18. 光照射下におけるオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位計測, 佐藤宣夫，石塚 彰，小野山有亮，改正清広，小林圭，松重和美，山田啓文, 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)

  19. FM検出方式ダイナミックモードAFMによる光誘起力検出, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文, 第44回茅コンファレンス (2006年9月)

  20. FM検出方式ダイナミックモードAFMによる光誘起力検出, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)

  21. 周波数変調方式のKFMによる有機分子薄膜材料の表面電位計測, 佐藤宣夫, 香取重尊, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 藤田静雄, 山田啓文, 松重和美, 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)

  22. 圧電薄膜カンチレバーを用いたマルチプローブSPMの開発, 佐藤宣夫, 常見英加, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, ナノ学会第4回大会 (2006年5月)

  23. マスク蒸着法により作製した積層有機薄膜の暗室下でのKFM表面電位マッピング, 佐藤宣夫, 香取重尊, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 藤田静雄, 松重和美, 山田啓文, 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)

  24. PZTカンチレバーを用いたFM-DFMの散逸力変調法による近接場光検出, 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透 , 松重和美, 山田啓文, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  25. 圧電薄膜カンチレバーを用いた多機能走査プローブ顕微鏡の開発, 佐藤宣夫, 日本真空協会関西支部平成17年度第2回講演会 (2005年5月)

  26. PZT薄膜カンチレバーを用いたFM検出方式ダイナミックモードSNOM(2)－散逸力変調による光検出－, 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 第52回応用物理学関係連合講演会 (2005年3月)

  27. ＰＺＴ薄膜カンチレバーを用いたＦＭ検出方式ダイナミックモードＳＮＯＭ－散逸力変調による光検出の試み－, 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 第65回応用物理学会学術講演会 (2004年9月)

  28. ＰＺＴ薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードＡＦＭによるナノ粒子の観察, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 第51回応用物理学関係連合学術講演会 (2004年3月)

  29. 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFMによるナノ粒子識別, 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第64回応用物理学会学術講演会 (2003年8月)

  30. PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOMによるナノ粒子識別, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 近接場光学研究グループ第12回研究討論会 (2003年6月)

  31. PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOM －ナノスケール光学・電気物性評価－, 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第50回応用物理学関係連合講演会 (2003年3月)

  32. PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードAFM －ナノスケール光学・電気物性評価－, 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 堀田収, 山田啓文, 松重和美, 第50回応用物理学関係連合講演会 (2003年3月)

  33. PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードAFM: 光学的および電気特性評価への応用, 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美, 大阪大学VBL 若手研究発表会 (2002年12月)

  34. 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM －ナノスケール光学・電気物性評価－, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第63回応用物理学会学術講演会 (2002年9月)

  35. 導電性PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOM, 佐藤宣夫, 渡辺俊二, 藤井透, 小林圭, 山田啓文, 松重和美, 近接場光学研究グループ第11回研究討論会 (2002年6月)

  36. 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的及び電気的特性評価への応用, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第49回応用物理学関係連合講演会 (2002年3月)

  37. 導電性PZT カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的及び電気的特性評価への応用, 佐藤宣夫, 小林圭, 青木裕之, 山田啓文, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 松重和美, 第62回応用物理学学術講演会 (2001年9月)

  38. 圧電性薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的特性及び電気的特性評価への応用, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 渡辺俊二, 堀内俊寿, 松重和美, 第48回応用物理学関係連合講演会 (2001年3月)

  39. 圧電薄膜カンチレバーを用いた強誘電体薄膜の微小分極領域の評価, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 堀内俊寿, 渡辺俊二, 松重和美, 第61回応用物理学学術講演会 (2000年9月)

  40. CBE法により成長したInGaP/GaAsの断面EBIC観察, 佐藤宣夫, 島崎晃治, 安達充浩, 江川孝志, 神保孝志, 梅野正義, 第45回応用物理学関係連合講演会 (1998年3月)

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（共同研究者分）†

  1. ナノスケール観測データを用いたパワー半導体デバイス動作の数値解析 田中一光，土井敦史，佐藤 宣夫 第65回システム制御情報学会研究発表講演会＠オンライン，Gsa-01-3，(2021/05/26).

  2. フライバックコンバータの1MHz動作に向けたトランス用磁性材料の評価および検討， 田村知孝，中山健太郎，佐藤宣夫, 令和3年電気学会全国大会＠オンライン, 5-128, (2021/03/11).

  3. 走査型プローブ顕微鏡を用いたSiC製パワー半導体デバイスのナノスケール観測， 土井敦史，田中一光，佐藤宣夫，山本秀和, 令和3年電気学会全国大会＠オンライン, 4-006, (2021/03/10).

  4. 走査型プローブ顕微鏡を用いた焦電素子のナノスケール観測， 出口雄一，佐藤宣夫, 令和3年電気学会全国大会＠オンライン, 1-047, (2021/03/09).

  5. 走査型プローブ顕微鏡用の電圧フィードバック制御回路の小型化とその周波数特性， 山田晃嵩，土井敦史，佐藤宣夫, 令和3年電気学会全国大会＠オンライン, 3-021, (2021/03/09).

  6. 小型位相検波回路を具備した活線警報器の開発， 高橋快聖，角 真輝，佐藤宣夫, 令和3年電気学会全国大会＠オンライン, 3-020, (2021/03/09).

  7. サブサーフェス磁気イメージングシステムの整流ダイオードへの適用， 角 真輝，佐藤宣夫, 令和3年電気学会全国大会＠オンライン, 1-045, (2021/03/09).

  8. 絶縁型Φ_2級DC-DCコンバータの解析に基づいた設計， 中山健太郎, 魏秀欽, 佐藤宣夫, 令和3年電気学会全国大会＠オンライン, 4-044, (2021/03/09).

  9. オゾン生成用高電圧回路の一検討， 鶴岡智彦，中山健太郎，佐藤宣夫, 令和3年電気学会全国大会＠オンライン, 1-100, (2021/03/09).

  10. 高調波解析技術に基づく絶縁型Φ2級DC-DCコンバータの設計， 中山 健太郎, 魏 秀欽, 佐藤 宣夫, 半導体電力変換/モータドライブ合同研究会＠オンライン，SPC-21-011,MD-21-011, pp.61-66, (2021/01/21).

  11. GaN高電子移動度トランジスタの内部構造評価 パワーデバイス用結晶の評価（XXXIII）， 加藤 圭一郎, 中山 敬太, 佐藤 宣夫, 山本 秀和， 応用物理学会秋季学術講演会，11p-Z12-5 (2021/09/11).

  12. リチウムイオン電池用フライバックコンバータのMHz帯動作とその並列化の検討， 中山健太郎，佐藤宣夫，令和2年電気学会全国大会@東京電機大学，4-054，（発表成立）.

  13. サブサーフェス磁気イメージングシステムの積層セラミックコンデンサへの適用， 角 真輝，岡田英朗，佐藤宣夫，令和2年電気学会全国大会＠東京電機大学，1-049，（発表成立）.

  14. 電圧フィードバック制御回路の製作とその評価， 山田晃嵩，土井敦史，佐藤宣夫，令和2年電気学会全国大会@東京電機大学，3-016，（発表成立）.

  15. LIB昇圧用フライバックコンバータ回路の単一電源化と高速スイッチング化の検討， 中山健太郎，佐藤宣夫，令和元年電気学会 産業応用部門大会@長崎大学，Y-6 (2019/08/21).

  16. 走査型プローブ顕微鏡によるパワー半導体素子内部構造の観測， 土井敦史，増田翔，佐藤宣夫，山本秀和，令和元年電気学会 産業応用部門大会@長崎大学，Y-34　(2019/08/20).

  17. 太陽電池評価のためのレーザ磁気顕微鏡法の開発， 岡田英朗，薮本 海，佐藤宣夫， 平成31年電気学会 電気学会全国大会@北海道科学大学，1-044 (2018/03/14).

  18. 積層セラミックコンデンサの短絡故障における非破壊電流経路可視化， 薮本 海，佐藤宣夫， 平成31年電気学会 電気学会全国大会@北海道科学大学，1-051 (2018/03/14).

  19. 800 V級フライバックコンバータの動作検討， 林 孝亮，佐藤宣夫，村岡充敏，小松雄爾，柳 偉，梁 小广，シロン・トーマス， 平成31年電気学会 電気学会全国大会@北海道科学大学，4-135 (2018/03/14).

  20. SiC-MOSFETを用いたMHz領域における昇圧型フライバックコンバータの一検討， 中山健太郎，林 孝亮，佐藤宣夫， 平成31年電気学会 電気学会全国大会@北海道科学大学，4-134 (2018/03/14).

  21. 電源回路の高周波化に伴うトランスの損失低減に向けた検討， 佐藤祥太，林 孝亮，佐藤宣夫， 平成31年電気学会 電気学会全国大会@北海道科学大学，4-037 (2018/03/12).

  22. AFM/KFM/SCFMによるSiパワーMOSFET断面構造のナノスケール観測， 土井敦史，中島瑞貴，増田 翔，佐藤宣夫，山本秀和， 平成31年電気学会 電気学会全国大会@北海道科学大学，4-002 (2018/03/12).

  23. 走査型プローブ顕微鏡によるSiC power-MOSFETの構造観察とその解析， 中島瑞貴，土井敦史，内田悠貴，小嶋正宏，佐藤宣夫，小田昭紀，山本秀和， 平成31年電気学会 電気学会全国大会@北海道科学大学，4-001 (2018/03/12).

  24. 散逸力変調方式による走査型容量原子間力顕微鏡の開発， 潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田 太， 平成30年電気学会 産業応用部門大会@横浜国立大学，Y-89 (2018/08/28).

  25. 走査型プローブ顕微鏡によるSiパワー半導体デバイス断面構造のナノスケール観測， 土井敦史，中島瑞貴，佐藤宣夫，山本秀和， 平成30年電気学会 産業応用部門大会@横浜国立大学，Y-55 (2018/08/28).

  26. サブサーフェス磁気イメージングシステムのパワー半導体素子への適用， 岡田英朗，薮本 海，佐藤宣夫 平成30年電気学会 産業応用部門大会@横浜国立大学，Y-54 (2018/08/28).

  27. 走査型プローブ顕微鏡によるSiCパワーMOSFETの構造観察とその解析， 中島瑞貴，土井敦史，内田悠貴，小嶋正宏，佐藤宣夫，小田昭紀，山本秀和， 平成30年電気学会 産業応用部門大会@横浜国立大学，Y-53 (2018/08/28).

  28. 昇圧型フライバックコンバータ回路に関する検討， 林 孝亮，佐藤宣夫， 平成30年電気学会 産業応用部門大会@横浜国立大学，Y-16 (2018/08/28).

  29. フライバックコンバータ回路におけるトランスの検討， 佐藤祥太，林 孝亮，佐藤宣夫， 平成30年電気学会 産業応用部門大会@横浜国立大学，Y-10 (2018/08/28).

  30. ケルビンプローブ力顕微鏡によるSiファストリカバリーダイオードのn-層観測， 潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田 太， 2018年 第65回応用物理学会春季学術講演会@早稲田大学，18a-F210-4（2018/03/18）.

  31. 多機能走査型プローブ顕微鏡による SiC-ショットキーバリアダイオードの評価， 内田悠貴，五十嵐貴紀，國米凱，中島瑞貴，佐藤宣夫，山本秀和， 2018年 第65回応用物理学会春季学術講演会@早稲田大学，18p-D103-18（2018/03/18）.

  32. 走査型プローブ顕微鏡による太陽電池用材料のナノスケール観測， 土井敦史，望月翔太，佐藤宣夫， 平成30年 電気学会全国大会@九州大学, 2-091 (2018/03/15).

  33. 絶縁型フライバックコンバータ回路の並列化に関する検討， 林 孝亮，佐藤宣夫， 平成30年 電気学会全国大会@九州大学, 4-077 (2018/03/15).

  34. Development of compact flyback converter integrated in gate driver circuit， A. Kosugi，N. Satoh，M. Muraoka，Y. Komatsu，W. Liu，X. Liang，T. Chiron， 平成30年 電気学会全国大会@九州大学, 4-076 (2018/03/15).

  35. 電流可視化装置による太陽電池評価システムの開発， 岡田英朗，薮本 海，佐藤宣夫， 平成30年 電気学会全国大会@九州大学, 1-042 (2018/03/15).

  36. AFM/KFM/SCFMによるパワー半導体デバイスの断面構造観察， 中島瑞貴，佐藤宣夫，山本秀和， 平成30年 電気学会全国大会@九州大学，4-002（2018/03/14）.

  37. 走査型プローブ顕微鏡によるSi製ファストリカバリーダイオードの表面電位観測， 潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田 太， 平成30年 電気学会全国大会@九州大学，4-001（2018/03/14）.

  38. リチウムイオンキャパシタの等価回路化への検討， 諸岡圭介・新藤弘樹・佐藤宣夫， 平成30年 電気学会全国大会@九州大学，3-019（2018/03/14）.

  39. 多機能走査型プローブ顕微鏡による SiC-MOSFETの評価， 内田悠貴，中島瑞貴，山本秀和，佐藤宣夫， 2017年 第78回応用物理学会秋季学術講演会@福岡国際会議場，7p-PB6-8（2017/09/07）.

  40. FM-AFM/KFMによるSiファストリカバリダイオードのドリフト層測定， 潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太，第17回日本表面科学学会中部支部　学術講演会@名古屋大学，9 (2017/12).

  41. AFM/KFM/SCFMによるパワー半導体デバイスの断面構造観察， 中島瑞貴，内田悠貴，佐藤宣夫，山本秀和， 2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会@福岡国際会議場，6a-C24-9（2017/09/06）.

  42. 電力変換回路コンポーネンツと発電・蓄電デバイスの技術動向， 南 政孝，津野眞仁，佐藤宣夫，吉澤 仁，三島智和，中岡睦雄 平成29年電気学会 産業応用部門大会@函館アリーナ，1-S13-6 (2017/08/31).

  43. 微小変位計測装置の変位検出感度の算出および評価， 西川良介，佐藤宣夫， 平成29年電気学会 産業応用部門大会@函館アリーナ，Y-71 (2017/08/29).

  44. サブサーフェス磁気イメージングシステムの基本特性とその応用， 薮本 海，佐藤宣夫， 平成29年電気学会 産業応用部門大会@函館アリーナ，Y-70 (2017/08/29).

  45. 原子間力顕微鏡を用いた有機薄膜のナノスケール観測， 望月翔太，佐藤宣夫，シャンムガム サラバナン，曽我哲夫， 平成29年電気学会 産業応用部門大会@函館アリーナ，Y-69 (2017/08/29).

  46. 電圧印加状態でのパワー半導体デバイス断面構造のナノスケール評価のための一検討， 中島瑞貴，佐藤宣夫，山本秀和， 平成29年電気学会 産業応用部門大会@函館アリーナ，Y-68 (2017/08/29).

  47. SiC-MOSFETによる高速スイッチング回路に関する検討， 林 孝亮，佐藤宣夫， 平成29年電気学会 産業応用部門大会@函館アリーナ，Y-64 (2017/08/29).

  48. リチウムイオン電池を用いた充放電システムの構築， 小杉篤司，新井浩志，内田真人，佐藤宣夫， 平成29年電気学会 産業応用部門大会@函館アリーナ，Y-63 (2017/08/29).

  49. リチウムイオンキャパシタの温度特性評価， 諸岡圭介，佐藤宣夫， 平成29年電気学会 産業応用部門大会@函館アリーナ，Y-62 (2017/08/29).

  50. リチウムイオン電池を用いた充放電システムの構築， 小杉篤司，伊藤 遼，藤縄隼人，新井浩志，内田真人，佐藤宣夫， 平成29年電気学会全国大会 (2017/03/17) 4-250

  51. ナノスケール観測装置における制御用電子回路の作製及び実機評価， 中島瑞貴，潤間威史，佐藤宣夫， 平成29年電気学会全国大会 (2017/03/17) 3-019

  52. FM-AFM/KFMによるZnOナノ粒子内包有機バルクヘテロ接合型活性層のナノスケール観測， 望月翔太，潤間威史，佐藤宣夫，S. Saravanan，曽我哲夫， 平成29年電気学会全国大会 (2017/03/16) 2-184

  53. 微小変位計測装置の製作及び評価， 西川良介，佐藤宣夫， 平成29年電気学会全国大会 (2017/03/16) 3-134

  54. 位相制御されたフライバックコンバータ回路の挙動解析， 大里辰希，佐藤宣夫， 平成29年電気学会全国大会 (2017/03/15) 4-118

  55. 走査型プローブ顕微鏡による炭化ケイ素製ショットキーバリアダイオードの局所物性観測， 潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和， 平成29年電気学会全国大会 (2017/03/15) 4-010

  56. 多機能走査型プローブ顕微鏡によるSiCショットキー障壁ダイオードの評価 パワーデバイス用結晶の評価（ⅩⅩⅠ）， 山本秀和，潤間威史，佐藤宣夫， 2017年 第64回応用物理学会春季学術講演会 (2017/03/15) 15a-F201-11

  57. コネクタ接触部における非破壊電流経路映像化に関する研究， 薮本 海，佐藤宣夫，鈴木章吾，松田聖樹，稲垣明里，美馬勇輝，木村建次郎，木村憲明， 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 (2017/03/06) 6P1-6

  58. パワーデバイス内部の空乏層の評価（2）数値計算との比較 パワーデバイス用結晶の評価（ⅩⅩ）， 山本秀和，小森郷平，小田昭紀，潤間威史，佐藤宣夫， 2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会 (2016/09/15) 15p-A23-4

  59. パワーデバイス内部の空乏層の評価（1）多機能走査型プローブ顕微鏡による評価 パワーデバイス用結晶の評価（ⅩⅨ）， 山本秀和，潤間威史，佐藤宣夫，小森郷平，小田昭紀， 2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会 (2016/09/15) 15p-A23-3

  60. 電流可視化装置による不導通欠陥部を有した模擬基板の観測， 薮本 海，池田新平，佐藤宣夫，美馬勇輝，木村建次郎， 平成28年電気学会 産業応用部門大会 (2016/08/30) Y-80.

  61. ミスト法による ITO 電極上α -NPD 薄膜の表面電位計測， 小高晃裕，佐藤宣夫，香取重尊， 平成28年電気学会 産業応用部門大会 (2016/08/30) Y-78.

  62. リチウムイオン電池を用いた充放電システムの構築， 小杉篤司，佐藤宣夫， 平成28年電気学会 産業応用部門大会 (2016/08/30) Y-77.

  63. 振動発電に用いる圧電ブザーの周波数特性評価， 西川良介，佐藤宣夫， 平成28年電気学会 産業応用部門大会 (2016/08/30) Y-75.

  64. 走査型プローブ顕微鏡を用いた金属ナノ粒子内包有機半導体膜のナノスケール観測， 望月翔太，佐藤宣夫， 平成28年電気学会 産業応用部門大会 (2016/08/30) Y-73.

  65. SiC power-MOSFET における温度特性評価の一検討， 小村裕作，佐藤宣夫，舟木 剛， 平成28年電気学会 産業応用部門大会 (2016/08/30) Y-67.

  66. SiC-JFETを用いた位相制御によるフライバックコンバータの実験的検討， 大里辰希，佐藤宣夫， 平成28年電気学会 産業応用部門大会 (2016/08/30) Y-49.

  67. 電流可視化装置による短絡箇所を有する模擬電池の観測， 池田新平，佐藤宣夫，木村建次郎， 平成28年電気学会全国大会 (2016/03/18) 1-035

  68. SiC-JFET を用いた位相制御によるフライバックコンバータの検討， 大里辰希，佐藤宣夫， 半導体電力変換研究会 (2016/07/15) SPC-16-101

  69. 太陽光発電システムにおける充放電制御アルゴリズムの提案とシミュレータの実装， 高須宏樹，山口真弥，石毛大貴，佐藤宣夫，内田真人， 平成28年電気学会全国大会 (2016/03/18) 4-159

  70. 走査型容量原子間力顕微鏡による空乏層の可視化， 潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和， 平成28年電気学会全国大会 (2016/03/17) 4-032

  71. リチウムイオン電池の充放電特性に関する一考察， 山口真弥，高須宏樹，佐藤宣夫，内田真人， 平成28年電気学会全国大会 (2016/03/17) 4-129

  72. SiC power-MOSFETにおける物理モデル構築への一検討〜高温環境下での連続ゲートバイアスによるデバイス劣化〜， 小村裕作，佐藤宣夫，舟木 剛， 平成28年電気学会全国大会 (2016/03/16) 4-015

  73. フライバックコンバータ回路の受動回路素子の一検討， 大里辰希，佐藤宣夫， 平成28年電気学会全国大会 (2016/03/16) 4-102

  74. 昇圧回路におけるパワー MOSFET の高速スイッチング特性の評価, 大里辰希，佐藤宣夫， 平成27年電気学会 産業応用部門大会 (2015年09月02日) Y-44

  75. リチウムイオン電池に対する電気二重層キャパシタおよび電解コンデンサの併用時における検討， 牛崎　拓，佐藤宣夫， 平成27年電気学会 産業応用部門大会(2015年09月02日) Y-56

  76. サファイア基板上窒化ガリウム層の表面形状及び表面電位観測, 潤間威史，佐藤宣夫，石川博康， 平成27年電気学会 産業応用部門大会 (2015年09月02日) Y-68

  77. 数値解析に向けた power-MOSFET のモデル構築の検討, 小村裕作，佐藤宣夫， 平成27年電気学会 産業応用部門大会 (2015年09月02日) Y-69

  78. 電流可視化装置の検出可能電流値の検討, 池田新平，佐藤宣夫，木村建次郎， 平成27年電気学会 産業応用部門大会 (2015年09月02日) Y-70

  79. AFM/KFM を用いたミスト法及び真空蒸着法による α-NPD 薄膜の電子物性評価, 小高晃裕，佐藤宣夫，香取重尊， 平成27年電気学会 産業応用部門大会 (2015年09月02日) Y-71

  80. 走査型プローブ顕微鏡によるSapphire 基板上GaNの観測, 潤間威史，佐藤宣夫，石川博康， 平成27年電気学会全国大会 (2015年03月) 2-098

  81. リチウムイオン電池に対する電気二重層キャパシタおよびアルミ電解コンデンサの併用に関する検討, 牛崎　拓，佐藤宣夫， 平成27年電気学会全国大会 (2015年03月) 7-054

  82. マイクロカンチレバーの非線形振動モデルにみられる概周期振動, 長尾北斗，清水邦康，潤間威史，佐藤宣夫，水津光司， 2015年 電子情報通信学会総合大会 (2015年03月) A-2-11

  83. CdS:O薄膜のナノ構造の評価, 中嶋将大，淺葉亮，鈴木昭典，佐藤宣夫，脇田和樹，沈用球，Nazim Mamedov，Ayaz Bayramov，Emil Huseynov， 平成26年度 多元系化合物・太陽電池研究会 年末講演会 (2014年11月) P25

  84. リチウムイオン電池に対する電気二重層キャパシタおよびアルミ電解コンデンサの併用効果の検討, 牛崎　拓，佐藤宣夫， 平成26年電気学会 産業応用部門大会 (2014年08月26日) Y-7

  85. KPFM によるCdS:O薄膜のナノ結晶の評価, 中嶋将大，淺葉亮，鈴木昭典，佐藤宣夫，脇田和樹，沈用球，Nazim Mamedov，Ayaz Bayramov，Emil Huseynov， 平成25年度 多元系化合物・太陽電池研究会 年末講演会 (2013年11月) P-6

  86. SiパワーMOSFETを用いた高周波スイッチング実現に関する実験的一検討, 文野貴司，佐藤宣夫，宅野嗣大，引原隆士， 平成24年電気学会 半導体電力変換研究会 (2012年1月) SPC-12-017

  87. 絶縁ゲートドライバを用いたSiパワーMOSFETの1MHzスイッチング特性, 文野貴司，佐藤宣夫，宅野嗣大，引原隆士， 平成23年電気関係学会関西支部連合大会 (2011年10月) 29A2-15

  88. リチウムイオン電池・電気二重層キャパシタの併用効果に関する検討, 美馬圭介，佐藤宣夫，引原隆士, 電子通信エネルギー技術研究会 (2010年02月)

  89. リチウム・イオン電池の放電特性に対する電気二重層キャパシタ併用による効果について, 美馬圭介，佐藤宣夫，引原隆士, 平成21年電気関係学会関西支部連合大会 (2009年11月)

  90. マイクロカンチレバー系への変調レーザ光による相互作用力およびその計測, 呉智珉，佐藤宣夫，引原隆士, 平成21年電気関係学会関西支部連合大会 (2009年11月)

  91. 斜入射光てこ法による2探針AFMの開発, 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第56回応用物理学関係連合講演会 (2009年3月)

  92. 電気二重層キャパシタにおける充放電特性に関する一検討, 佐藤宣夫, 美馬圭介, 引原隆士, 平成21年電気学会全国大会 (2009年3月)

  93. 圧電薄膜カンチレバーと試料間に働くシアフォースの計測, 松廣慎一郎，佐藤宣夫，引原隆士, 平成20年電気関係学会関西支部連合大会 (2008年11月)

  94. AFMを用いた光誘起力の高感度検出に関する一検討, 呉智珉，佐藤宣夫，引原隆士, 平成20年電気関係学会関西支部連合大会 (2008年11月)

  95. FM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の光照射時の表面電位計測(2), 山木理生，佐藤宣夫，香取重尊，小林圭，藤田静雄，松重和美，山田啓文, 第69回応用物理学会学術講演会 (2008年9月)

  96. 金属電極に架橋したオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位測定(2), 小野山有亮，小林圭，佐藤宣夫，松重和美，山田啓文, 第69回応用物理学会学術講演会 (2008年9月)

  97. 2探針AFM/KFMによる有機半導体薄膜の電子物性評価, 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第69回応用物理学会学術講演会 (2008年9月)

  98. 金属電極に架橋したオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位測定, 小野山有亮，小林圭，佐藤宣夫，松重和美，山田啓文, 第55回応用物理学関係連合講演会 (2008年3月)

  99. FM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の光照射時の表面電位計測, 山木理生，佐藤宣夫，香取重尊，小林圭，松重和美，山田啓文, 第55回応用物理学関係連合講演会 (2008年3月)

  100. マルチプローブAFM/KFMを用いた有機薄膜の電気特性評価, 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第55回応用物理学関係連合講演会 (2008年3月)

  101. 微小開口をもつAFM 探針からの溶液ナノディスペンシング(3), 改正清広，佐藤宣夫，小林圭，山田啓文，松重和美, 第55回応用物理学関係連合講演会 (2008年3月)

  102. ナノギャップ電極に架橋したオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位測定, 小野山有亮，小林圭，佐藤宣夫，改正清広，松重和美，山田啓文, 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)

  103. 光てこ法を用いたマルチプローブAFMの開発（2） 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)

  104. ケルビンプローブ原子間力顕微鏡によるオリゴチオフェン結晶性薄膜の表面電位測定, 小野山有亮，小林圭，佐藤宣夫，改正清広，松重和美，山田啓文, 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)

  105. 光てこ法を用いたマルチプローブAFMの開発, 常見英加，佐藤宣夫，小林圭，松重和美，山田啓文, 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)

  106. KFMによる強誘電体表面における表面電荷の分極挙動の評価, 中井章文, 佐藤宣夫, 小林圭, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第44回茅コンファレンス (2006年9月)

  107. マルチプローブAFMの開発およびプローブ間相互作用の検出, 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文, 第44回茅コンファレンス (2006年9月)

  108. マルチプローブAFMの開発およびプローブ間相互作用の検出, 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文, 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)

  109. KFMによる強誘電体表面における表面電荷の分極挙動の評価, 中井章文, 佐藤宣夫, 小林圭, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美, 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)

  110. 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング, 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文, ナノ学会第4回大会 (2006年5月)

  111. 誘電泳動法によるナノギャップ電極への分子配向とその電子物性評価, 鈴木一博, 改正清広, 佐藤宣夫, 宮戸祐治, 大村英治, 小林圭, 松重和美, 山田啓文, 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)

  112. 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング(2) 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文, 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)

  113. 自己検出カンチレバーを用いたマルチプローブＡＦＭの開発とその基本性能, 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文, 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)

  114. 金属電極上に堆積したAlq3薄膜のKFMによる表面電位観察, 香取重尊, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 藤田静雄, 松重和美, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  115. マスク蒸着法による有機積層薄膜のAFM/KFMを用いた表面電位観察, 香取重尊, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 藤田静雄, 松重和美, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  116. 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング, 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  117. ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による有機半導体分子薄膜／金属界面の電位分布観察, 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 石田謙司, 松重和美, 山田啓文, 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)

  118. 有機積層薄膜のKFMを用いた表面電位観察, 香取重尊, 佐藤宣夫, 八尋正幸, 小林圭, 藤田静雄, 松重和美, 第52回応用物理学関係連合講演会 (2005年3月)

  119. 真空蒸着法により作製された金属/有機薄膜のKFMを用いた表面電位観察, 香取重尊, 佐藤宣夫, 藤田静雄, 松重和美, 第65回応用物理学会学術講演会 (2004年9月)

  120. CBE成長GaAs/SiにおけるInの添加効果, S. Saravanan, 安達充浩, 佐藤宣夫, 曽我哲夫, 神保孝志, 梅野正義, 第47回応用物理学関係連合講演会 (2000年3月)

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受賞歴†

  1. 平成24年 電気学会全国大会 優秀論文発表賞（2012年03月）
    「SiC製DMOSFETを用いた絶縁型フライバックコンバータの1MHzスイッチング動作」

  2. 平成24年 電気学会 産業応用部門 半導体電力変換研究会 優秀論文発表賞（2012年01月）
    「絶縁型フライバックコンバータの1MHzスイッチングにおける挙動解析」

  3. 平成20年電気関係学会関西支部連合大会 奨励賞（2009年4月）
    「ツインプローブ原子間力顕微鏡の開発とその基本性能」

  4. 京都大学 ナノ工学高等研究院 第四回若手研究者発表会　優秀賞　(2006年6月)
    「圧電薄膜カンチレバーを用いたマルチプローブSPMの開発」

  5. 関西テクノアイデアコンテスト'05 (KATIC'05) 京都大学総長賞　(2005年11月)
    「レッツアゴー」

  6. 京都大学 ナノ工学高等研究院 第三回若手研究者発表会　優秀賞　(2005年6月)
    「圧電薄膜カンチレバーを用いた多機能走査プローブ顕微鏡の開発」

  7. 関西テクノアイデアコンテスト'04 (KATIC'04) グランプリ　(2004年11月)
    「マルチプローブ間距離制御が可能な原子間力顕微鏡」

  8. 関西テクノアイデアコンテスト'02 (KATIC'02) 努力賞　(2002年11月)
    「PZTカンチレバーを用いた太陽電池評価装置」

  9. 京都大学ベンチャービジネスラボラトリー若手研究助成受賞研究 優秀賞　(2001年6月)
    「導電性PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードAFMの開発改良」

  10. 関西テクノアイデアコンテスト ソニー特別賞　(2001年11月)
    「PZTカンチレバーを用いたポータブルAFM」

  11. 関西テクノアイデアコンテスト　努力賞　(2000年11月)
    「PZT カンチレバーを用いた近接場光学顕微鏡とレーザ励起蛍光分析との複合化装置」

  12. 社団法人　日本電気技術者協会　(1998年3月)　「霜寿賞」


  13. 日本セラミック協会 第22回セラモグラフィック賞　技術部門銀賞　(1997年9月)
    　「純チタン板上に電気化学的に合成したリン酸カルシウム塩結晶の二次電子像と疑似カラー化した写真」

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