中島 瑞貴
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*** 略歴 [#i4bd3144]
#ref(nakajima_ed.jpg,center,10%)
-生年月日 [[1994年:http://nendai-ryuukou.com/1990/1994.h...
[[12月7日:https://www.weblio.jp/birthday/people/tltdb/120...
-出身地 [[宮城県:http://www.pref.miyagi.jp/]]
[[岩沼市:https://www.city.iwanuma.miyagi.jp/]]&br;
-趣味 写真，サイクリング，スノーボード&br;
-特技 ソフトテニス，料理&br;
-好きな女性のタイプ 新川優愛&br;
-研究内容 ナノスケール観測装置における制御用電子回路の作...
AFM/KFM/SCFMによるパワー半導体デバイスの断面構...
パワー半導体デバイス・シミュレータの開発&br;
-通学時間 約10分&br;
&br;
***平成30年度 [#w59b46d7]
【後期】
|CENTER:30|CENTER:110|CENTER:110|CENTER:110|CENTER:110|CE...
| |月|火|水|木|金|土|h
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|3|BGCOLOR(LIGHTBLUE):SA&br; 学生&br; サポートセンター |B...
|4|~|~| ||~| |
|5|~| | ||~| |
***学歴 [#b86c34e7]
・2010年(平成22年)4月 宮城県工業高等学校 電子機械科 入...
・2013年(平成25年)3月 宮城県工業高等学校 電子機械科 卒...
・2013年(平成25年)4月 千葉工業大学 工学部 電気電子情報...
・2017年(平成29年)3月 千葉工業大学 工学部 電気電子情報...
・2017年(平成29年)4月 千葉工業大学大学院 工学研究科 電...
***研究関連 [#k4faaf61]
【投稿論文】&br;
〔第1著者分〕&br;
+Nanoscale investigation of the silicon carbide double-di...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh and H. Yamamoto Jpn. J. ...
+Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/K...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 20...
[[[URL:https://ieeexplore.ieee.org/document/8507489]]]&br;
〔共著者分〕&br;
+Cross sectional observation in nanoscale for Si power MO...
atomic force microscopy / Kelvin probe force microscopy /
scanning capacitance force microscopy&br;
A. Doi, M. Nakajima, S. Masuda, N. Satoh and H. Yamamoto,...
【国際学会発表】&br;
〔本人登壇分〕&br;
+Nanoscale investigation of the silicon carbide power MOS...
M. Nakajima, A. Doi, Y. Uchida, M. Kojima, N. Satoh, A. O...
+Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/K...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 20...
+Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/K...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, 25th I...
+Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/K...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 8t...
〔共同研究者分〕&br;
+Cross sectional observation in nanoscale for Si power MO...
+Evaluation of SiC power device by multifunctional scanni...
【国内学会発表】&br;
〔本人登壇分〕&br;
+走査型プローブ顕微鏡によるSiC power-MOSFETの構造観察とそ...
+走査型プローブ顕微鏡による SiC パワー MOSFET の構造観察...
中島瑞貴，土井敦史，内田悠貴，小嶋正宏，佐藤宣夫，小田昭...
+AFM/KFM/SCFMによるパワー半導体デバイスの断面構造観察， ...
+AFM/KFM/SCFMによるパワー半導体デバイスの断面構造観察， ...
+電圧印加状態でのパワー半導体デバイス断面構造のナノスケー...
中島瑞貴，佐藤宣夫，山本秀和，平成29年電気学会 産業応用部...
+ナノスケール観測装置における制御用電子回路の作製及び実機...
中島瑞貴，潤間威史，佐藤宣夫，
平成29年電気学会全国大会@富山大学 (2017/03/17) [[3-019:ht...
〔共同研究者分〕&br;
+AFM/KFM/SCFMによるSiパワーMOSFET断面構造のナノスケール観...
+多機能走査型プローブ顕微鏡によるトレンチSiC-MOSFETの評価...
+多機能走査型プローブ顕微鏡によるSiC-ショットキーバリアダ...
+走査型プローブ顕微鏡による Si パワー半導体デバイス断面構...
土井敦史，中島瑞貴，佐藤宣夫，山本秀和，平成30年電気学会 ...
+多機能走査型プローブ顕微鏡による SiC-ショットキーバリア...
+多機能走査型プローブ顕微鏡による SiC-MOSFETの評価， 内田...
【その他発表】&br;
+走査型プローブ顕微鏡による SiC パワー MOSFET の構造観察...
中島瑞貴，土井敦史，内田悠貴，小嶋正宏，佐藤宣夫，小田昭...
+中島瑞貴，佐藤宣夫：「ナノスケール観測装置における制御用...
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*** 略歴 [#i4bd3144]
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-生年月日 [[1994年:http://nendai-ryuukou.com/1990/1994.h...
[[12月7日:https://www.weblio.jp/birthday/people/tltdb/120...
-出身地 [[宮城県:http://www.pref.miyagi.jp/]]
[[岩沼市:https://www.city.iwanuma.miyagi.jp/]]&br;
-趣味 写真，サイクリング，スノーボード&br;
-特技 ソフトテニス，料理&br;
-好きな女性のタイプ 新川優愛&br;
-研究内容 ナノスケール観測装置における制御用電子回路の作...
AFM/KFM/SCFMによるパワー半導体デバイスの断面構...
パワー半導体デバイス・シミュレータの開発&br;
-通学時間 約10分&br;
&br;
***平成30年度 [#w59b46d7]
【後期】
|CENTER:30|CENTER:110|CENTER:110|CENTER:110|CENTER:110|CE...
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***学歴 [#b86c34e7]
・2010年(平成22年)4月 宮城県工業高等学校 電子機械科 入...
・2013年(平成25年)3月 宮城県工業高等学校 電子機械科 卒...
・2013年(平成25年)4月 千葉工業大学 工学部 電気電子情報...
・2017年(平成29年)3月 千葉工業大学 工学部 電気電子情報...
・2017年(平成29年)4月 千葉工業大学大学院 工学研究科 電...
***研究関連 [#k4faaf61]
【投稿論文】&br;
〔第1著者分〕&br;
+Nanoscale investigation of the silicon carbide double-di...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh and H. Yamamoto Jpn. J. ...
+Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/K...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 20...
[[[URL:https://ieeexplore.ieee.org/document/8507489]]]&br;
〔共著者分〕&br;
+Cross sectional observation in nanoscale for Si power MO...
atomic force microscopy / Kelvin probe force microscopy /
scanning capacitance force microscopy&br;
A. Doi, M. Nakajima, S. Masuda, N. Satoh and H. Yamamoto,...
【国際学会発表】&br;
〔本人登壇分〕&br;
+Nanoscale investigation of the silicon carbide power MOS...
M. Nakajima, A. Doi, Y. Uchida, M. Kojima, N. Satoh, A. O...
+Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/K...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 20...
+Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/K...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, 25th I...
+Nanoscale investigation of the power MOSFET by the AFM/K...
M. Nakajima, Y. Uchida, N. Satoh, and H. Yamamoto, The 8t...
〔共同研究者分〕&br;
+Cross sectional observation in nanoscale for Si power MO...
+Evaluation of SiC power device by multifunctional scanni...
【国内学会発表】&br;
〔本人登壇分〕&br;
+走査型プローブ顕微鏡によるSiC power-MOSFETの構造観察とそ...
+走査型プローブ顕微鏡による SiC パワー MOSFET の構造観察...
中島瑞貴，土井敦史，内田悠貴，小嶋正宏，佐藤宣夫，小田昭...
+AFM/KFM/SCFMによるパワー半導体デバイスの断面構造観察， ...
+AFM/KFM/SCFMによるパワー半導体デバイスの断面構造観察， ...
+電圧印加状態でのパワー半導体デバイス断面構造のナノスケー...
中島瑞貴，佐藤宣夫，山本秀和，平成29年電気学会 産業応用部...
+ナノスケール観測装置における制御用電子回路の作製及び実機...
中島瑞貴，潤間威史，佐藤宣夫，
平成29年電気学会全国大会@富山大学 (2017/03/17) [[3-019:ht...
〔共同研究者分〕&br;
+AFM/KFM/SCFMによるSiパワーMOSFET断面構造のナノスケール観...
+多機能走査型プローブ顕微鏡によるトレンチSiC-MOSFETの評価...
+多機能走査型プローブ顕微鏡によるSiC-ショットキーバリアダ...
+走査型プローブ顕微鏡による Si パワー半導体デバイス断面構...
土井敦史，中島瑞貴，佐藤宣夫，山本秀和，平成30年電気学会 ...
+多機能走査型プローブ顕微鏡による SiC-ショットキーバリア...
+多機能走査型プローブ顕微鏡による SiC-MOSFETの評価， 内田...
【その他発表】&br;
+走査型プローブ顕微鏡による SiC パワー MOSFET の構造観察...
中島瑞貴，土井敦史，内田悠貴，小嶋正宏，佐藤宣夫，小田昭...
+中島瑞貴，佐藤宣夫：「ナノスケール観測装置における制御用...
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