潤間 威史
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*** 略歴 [#c97e880e]
#ref(260420_109148909235170_598843102_n.jpg,left,100%)
- 生年月日 1992年07月02日&br;
-出身地 千葉県&br;
-趣味 スポーツ、&br;
-特技 &br;
-好きな異性の芸能人 松たか子，松嶋菜々子
-好きなもの コーヒー: お土産はコーヒー豆が嬉しいです．
-研究内容
+AFM/KFM/SCFMによるパワーデバイスの動作解析&br;
+GaN薄膜の観測&br;
+デバイス評価用のSEM内で動作可能なAFMの開発&br;
***経歴 [#k4faaf61]
・2011年(平成23年)3月 千葉県立幕張総合高等学校 卒業&br;
・2011年(平成23年)4月 千葉工業大学 電気電子情報工学科 ...
・2015年(平成27年)3月 千葉工業大学 電気電子情報工学科 ...
・2015年(平成27年)4月 千葉工業大学大学院 電気電子情報工...
・2017年(平成29年)3月 千葉工業大学大学院 電気電子情報工...
・2017年(平成29年)4月 静岡大学 自然科学系教育部 光・ナ...
旧研究室: 静岡大学 岩田・中澤研究室[https://wwp.shiz...
・2020年(令和2年)3月 静岡大学 自然科学系教育部 光・ナノ...
博士論文題目「走査型プローブ顕微鏡による電力用半導体...
・2020年(令和2年)4月 株式会社日立ハイテクサイエンス 入社...
・2021年(令和3年)4月 株式会社日立ハイテク 出向&br;
***研究関連 [#k4faaf61]
【投稿論文】&br;
〔第1著者分〕&br;
+Development of scanning capacitance force microscopy usi...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata : Meas. Sci...
[https://doi.org/10.1088/1361-6501/ab5373]
+Development of atomic force microscopy combined
with scanning electron microscopy for investigating elect...
T. Uruma, C. Tsunemitsu, K. Terao, K. Nakazawa, N. Satoh,...
[ https://doi.org/10.1063/1.5125163]
+Investigation of an n- layer in a silicon fast recovery ...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata : Jpn. J. A...
[https://doi.org/10.7567/JJAP.57.08NB11]
+Observation of silicon carbide Schottky barrier diode un...
/scanning capacitance force microscopy&br;
T. Uruma, N. Satoh, and H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys....
+Investigation of the depletion layer by scanning capacit...
T. Uruma, N. Satoh, and H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys....
+Surface Potential and Topography Measurements of Gallium...
T. Uruma, N. Satoh, and H. Ishikawa : IEEJ Trans. on Sens...
〔共著者分〕&br;
+Imaging of an electret film fabricated on a micro-machin...
K. Nakazawa, K. Fukazawa, T. Uruma, G. Hashiguchi, and F....
+Nanoscale observation of active layer in hybrid solar ce...
force microscopy and Kelvin probe force microscopy&br;
S. Mochizuki, T. Uruma, N. Satoh, S. Saravanan, and T. So...
+ Evaluation of Carrier Concentration Reduction in GaN-on...
H. Yamamoto, K. Agui, Y. Uchida, S. Mochizuki, T. Uruma, ...
+Non-Resonant Frequency Components Observed in a Dynamic ...
H. Nagao, T. Uruma, K. Shimizu, N. Satoh and K. Suizu : N...
【国際学会発表】&br;
〔本人登壇分〕&br;
+Development of an atomic force microscope combined with a
scanning electron microscope for investigation of electro...
actual semiconductor device,&br;
T. Uruma, C. Tunemitu, K. Terao, N. Satoh, H. Yamamoto, K...
and F. Iwata, 27th International Colloquium on Scanning
Probe Microscopy (ICSPM27), S4-43, (2019/12/5)
+Development of an atomic force microscope combined with ...
T. Uruma, K. Terao, N. Satoh, H. Yamamoto, K. Nakazawa,
and F. Iwata, The 8th International Conference of Asian S...
Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN 2019), E-...
+Development of Scanning Capacitance Force Microscopy usi...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata, 14th Inter...
+Imaging of an n- layer of an Si fast recovery diode usin...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata, Internatio...
+Surface potential measurement of silicon fast recovery d...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata, 25th Inter...
+Observation of the Silicon Carbide Schottky Barrier Diod...
T. Uruma, N. Satoh, and H. Yamamoto, 24th International C...
+Investigation on the Surface Potential and the Depletion...
T. Uruma, N. Satoh, K. Komori, A. Oda and H. Yamamoto,
The 19th International Conference on Electrical Machines ...
+Observation of the Schottky barrier diode under applied ...
T. Uruma, and N. Satoh, 23rd International Colloquium on ...
〔共同研究者分〕&br;
+Development of Kelvin probe force microscope capable of ...
voltage potential of charge distribution of a MEMS comb e...
K. Fukazawa, T. Uruma, K. Nakazawa, G. Hashiguchi, and F....
+Evaluation of Carrier Concentration Reduction in GaN on ...
H. Yamamoto, K. Agui, Y. Uchida, S. Mochizuki, T. Uruma, ...
+Investigation on the Surface Potential and the Depletion...
K. Komori, A. Oda, T. Uruma, N. Satoh and H. Yamamoto,
The 19th International Conference on Electrical Machines ...
+Surface Potential Measurement ofα-NPD Thin Film Fabricat...
S. Katori, A. Odaka, T. Uruma, N. Satoh, Eighth Internati...
+Mechanical Behavior of a Cantilever Probe Influenced by ...
K. Shimizu, H. Nagao, T. Uruma, N. Satoh, K. Suizu, 2014 ...
+Surface Potential Measurement of p-type Organic Semicond...
N. Satoh, T. Uruma, A. Odaka and S. Katori, Korea Japan J...
【国内学会発表】&br;
〔本人登壇分〕&br;
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，中澤謙太，岩田太: 「電子デ...
た電子顕微鏡複合化原子間力顕微鏡の開発」，第80回応用物理...
演会(＠北海道大学) 18p-C310-13 (2019-09)&br;
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，中澤謙太，岩田太:「電子デ...
の電子顕微鏡複合化原子間力顕微鏡システムの開発」，2019年...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太: 「散逸力変調方式走...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太:「散逸力変調方式を...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太:「散逸力変調方式に...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太: 「ケルビンプローブ...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太: 「走査型プローブ顕...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太: 「FM-AFM/KFMによる...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和：「走査型プローブ顕微鏡によ...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和：「走査型容量原子間力顕微鏡...
+潤間威史，佐藤宣夫，石川博康：「サファイア基板上窒化ガリ...
+潤間威史，佐藤宣夫，石川博康：「走査型プローブ顕微鏡によ...
〔共同研究者分〕&br;
+高電圧表面電位が測定可能なケルビンプローブフォース顕微鏡...
+ナノスケール観測装置における制御用電子回路の作製及び実機...
+FM-AFM/KFMによるZnOナノ粒子内包有機バルクヘテロ接合型活...
望月翔太，潤間威史，佐藤宣夫，S. Saravanan，曽我哲夫， 平...
+パワーデバイス内部の空乏層の評価（2）数値計算との比較 パ...
+パワーデバイス内部の空乏層の評価（1）多機能走査型プロー...
+マイクロプローブ振動モデルにみられる周期解の共存，長尾北...
+マイクロカンチレバーの非線形振動モデルにみられる概周期振...
【その他発表】&br;
+T. Uruma, K. Nakazawa, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwa...
microscope for investigation of electronic devices」，The...
symposium on \Elucidation of Property of Next Generation ...
Materials and Surface/Interface"(＠Osaka Univ.)，2019/12/...
+T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata: 「Surface...
by Kelvin Probe Force Microscopy」，29th 2018 Internation...
+T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata: 「Observa...
dissipative force modulation method」，20th Takayanagi Ke...
+T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata: 「Observa...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和：「Investigation of the Sil...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和：「パワーデバイスにおける空...
+潤間威史，佐藤宣夫：「多機能走査プローブ顕微鏡の開発とそ...
+潤間威史，佐藤宣夫，石川博康：「サファイア基板上窒化ガリ...
【受賞歴】 &br;
+The 19th International Conference on Electrical Machines...
「Investigation on the Surface Potential and the Depletio...
+平成30年 電気学会 産業応用部門大会&br; YPC優秀発表賞, ...
「散逸力変調方式による走査型容量原子間力顕微鏡の開発」&br;
+2019 年度精密工学会秋季大会学術講演会&br; ベストプレゼン...
(2019/09/06) 「電子デバイス評価のための電子顕微鏡複合化原...
システムの開発」
【外部資金】 &br;
日本学術振興会 特別研究員奨励費 課題番号: 18J10822 (201...
2020/03/31) 研究課題名「駆動状態での実デバイス動作面の電...
能なプローブ顕微鏡システムの開発」
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*** 略歴 [#c97e880e]
#ref(260420_109148909235170_598843102_n.jpg,left,100%)
- 生年月日 1992年07月02日&br;
-出身地 千葉県&br;
-趣味 スポーツ、&br;
-特技 &br;
-好きな異性の芸能人 松たか子，松嶋菜々子
-好きなもの コーヒー: お土産はコーヒー豆が嬉しいです．
-研究内容
+AFM/KFM/SCFMによるパワーデバイスの動作解析&br;
+GaN薄膜の観測&br;
+デバイス評価用のSEM内で動作可能なAFMの開発&br;
***経歴 [#k4faaf61]
・2011年(平成23年)3月 千葉県立幕張総合高等学校 卒業&br;
・2011年(平成23年)4月 千葉工業大学 電気電子情報工学科 ...
・2015年(平成27年)3月 千葉工業大学 電気電子情報工学科 ...
・2015年(平成27年)4月 千葉工業大学大学院 電気電子情報工...
・2017年(平成29年)3月 千葉工業大学大学院 電気電子情報工...
・2017年(平成29年)4月 静岡大学 自然科学系教育部 光・ナ...
旧研究室: 静岡大学 岩田・中澤研究室[https://wwp.shiz...
・2020年(令和2年)3月 静岡大学 自然科学系教育部 光・ナノ...
博士論文題目「走査型プローブ顕微鏡による電力用半導体...
・2020年(令和2年)4月 株式会社日立ハイテクサイエンス 入社...
・2021年(令和3年)4月 株式会社日立ハイテク 出向&br;
***研究関連 [#k4faaf61]
【投稿論文】&br;
〔第1著者分〕&br;
+Development of scanning capacitance force microscopy usi...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata : Meas. Sci...
[https://doi.org/10.1088/1361-6501/ab5373]
+Development of atomic force microscopy combined
with scanning electron microscopy for investigating elect...
T. Uruma, C. Tsunemitsu, K. Terao, K. Nakazawa, N. Satoh,...
[ https://doi.org/10.1063/1.5125163]
+Investigation of an n- layer in a silicon fast recovery ...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata : Jpn. J. A...
[https://doi.org/10.7567/JJAP.57.08NB11]
+Observation of silicon carbide Schottky barrier diode un...
/scanning capacitance force microscopy&br;
T. Uruma, N. Satoh, and H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys....
+Investigation of the depletion layer by scanning capacit...
T. Uruma, N. Satoh, and H. Yamamoto : Jpn. J. Appl. Phys....
+Surface Potential and Topography Measurements of Gallium...
T. Uruma, N. Satoh, and H. Ishikawa : IEEJ Trans. on Sens...
〔共著者分〕&br;
+Imaging of an electret film fabricated on a micro-machin...
K. Nakazawa, K. Fukazawa, T. Uruma, G. Hashiguchi, and F....
+Nanoscale observation of active layer in hybrid solar ce...
force microscopy and Kelvin probe force microscopy&br;
S. Mochizuki, T. Uruma, N. Satoh, S. Saravanan, and T. So...
+ Evaluation of Carrier Concentration Reduction in GaN-on...
H. Yamamoto, K. Agui, Y. Uchida, S. Mochizuki, T. Uruma, ...
+Non-Resonant Frequency Components Observed in a Dynamic ...
H. Nagao, T. Uruma, K. Shimizu, N. Satoh and K. Suizu : N...
【国際学会発表】&br;
〔本人登壇分〕&br;
+Development of an atomic force microscope combined with a
scanning electron microscope for investigation of electro...
actual semiconductor device,&br;
T. Uruma, C. Tunemitu, K. Terao, N. Satoh, H. Yamamoto, K...
and F. Iwata, 27th International Colloquium on Scanning
Probe Microscopy (ICSPM27), S4-43, (2019/12/5)
+Development of an atomic force microscope combined with ...
T. Uruma, K. Terao, N. Satoh, H. Yamamoto, K. Nakazawa,
and F. Iwata, The 8th International Conference of Asian S...
Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN 2019), E-...
+Development of Scanning Capacitance Force Microscopy usi...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata, 14th Inter...
+Imaging of an n- layer of an Si fast recovery diode usin...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata, Internatio...
+Surface potential measurement of silicon fast recovery d...
T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata, 25th Inter...
+Observation of the Silicon Carbide Schottky Barrier Diod...
T. Uruma, N. Satoh, and H. Yamamoto, 24th International C...
+Investigation on the Surface Potential and the Depletion...
T. Uruma, N. Satoh, K. Komori, A. Oda and H. Yamamoto,
The 19th International Conference on Electrical Machines ...
+Observation of the Schottky barrier diode under applied ...
T. Uruma, and N. Satoh, 23rd International Colloquium on ...
〔共同研究者分〕&br;
+Development of Kelvin probe force microscope capable of ...
voltage potential of charge distribution of a MEMS comb e...
K. Fukazawa, T. Uruma, K. Nakazawa, G. Hashiguchi, and F....
+Evaluation of Carrier Concentration Reduction in GaN on ...
H. Yamamoto, K. Agui, Y. Uchida, S. Mochizuki, T. Uruma, ...
+Investigation on the Surface Potential and the Depletion...
K. Komori, A. Oda, T. Uruma, N. Satoh and H. Yamamoto,
The 19th International Conference on Electrical Machines ...
+Surface Potential Measurement ofα-NPD Thin Film Fabricat...
S. Katori, A. Odaka, T. Uruma, N. Satoh, Eighth Internati...
+Mechanical Behavior of a Cantilever Probe Influenced by ...
K. Shimizu, H. Nagao, T. Uruma, N. Satoh, K. Suizu, 2014 ...
+Surface Potential Measurement of p-type Organic Semicond...
N. Satoh, T. Uruma, A. Odaka and S. Katori, Korea Japan J...
【国内学会発表】&br;
〔本人登壇分〕&br;
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，中澤謙太，岩田太: 「電子デ...
た電子顕微鏡複合化原子間力顕微鏡の開発」，第80回応用物理...
演会(＠北海道大学) 18p-C310-13 (2019-09)&br;
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，中澤謙太，岩田太:「電子デ...
の電子顕微鏡複合化原子間力顕微鏡システムの開発」，2019年...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太: 「散逸力変調方式走...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太:「散逸力変調方式を...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太:「散逸力変調方式に...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太: 「ケルビンプローブ...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太: 「走査型プローブ顕...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和，岩田太: 「FM-AFM/KFMによる...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和：「走査型プローブ顕微鏡によ...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和：「走査型容量原子間力顕微鏡...
+潤間威史，佐藤宣夫，石川博康：「サファイア基板上窒化ガリ...
+潤間威史，佐藤宣夫，石川博康：「走査型プローブ顕微鏡によ...
〔共同研究者分〕&br;
+高電圧表面電位が測定可能なケルビンプローブフォース顕微鏡...
+ナノスケール観測装置における制御用電子回路の作製及び実機...
+FM-AFM/KFMによるZnOナノ粒子内包有機バルクヘテロ接合型活...
望月翔太，潤間威史，佐藤宣夫，S. Saravanan，曽我哲夫， 平...
+パワーデバイス内部の空乏層の評価（2）数値計算との比較 パ...
+パワーデバイス内部の空乏層の評価（1）多機能走査型プロー...
+マイクロプローブ振動モデルにみられる周期解の共存，長尾北...
+マイクロカンチレバーの非線形振動モデルにみられる概周期振...
【その他発表】&br;
+T. Uruma, K. Nakazawa, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwa...
microscope for investigation of electronic devices」，The...
symposium on \Elucidation of Property of Next Generation ...
Materials and Surface/Interface"(＠Osaka Univ.)，2019/12/...
+T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata: 「Surface...
by Kelvin Probe Force Microscopy」，29th 2018 Internation...
+T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata: 「Observa...
dissipative force modulation method」，20th Takayanagi Ke...
+T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata: 「Observa...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和：「Investigation of the Sil...
+潤間威史，佐藤宣夫，山本秀和：「パワーデバイスにおける空...
+潤間威史，佐藤宣夫：「多機能走査プローブ顕微鏡の開発とそ...
+潤間威史，佐藤宣夫，石川博康：「サファイア基板上窒化ガリ...
【受賞歴】 &br;
+The 19th International Conference on Electrical Machines...
「Investigation on the Surface Potential and the Depletio...
+平成30年 電気学会 産業応用部門大会&br; YPC優秀発表賞, ...
「散逸力変調方式による走査型容量原子間力顕微鏡の開発」&br;
+2019 年度精密工学会秋季大会学術講演会&br; ベストプレゼン...
(2019/09/06) 「電子デバイス評価のための電子顕微鏡複合化原...
システムの開発」
【外部資金】 &br;
日本学術振興会 特別研究員奨励費 課題番号: 18J10822 (201...
2020/03/31) 研究課題名「駆動状態での実デバイス動作面の電...
能なプローブ顕微鏡システムの開発」
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